中国标准分类[H21金属物理性能试验方法]-工标网

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标准编号	标准名称	发布部门	实施日期	状态
GB/T 13387-1992	电子材料晶片参考面长度测量方法	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13388-1992	硅片参考面结晶学取向X射线测量方法	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13389-1992	掺硼掺磷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13390-1992	金属粉末比表面积的测定氮吸附法	国家技术监督局	1992-10-01	作废
GB/T 13448-1992	彩色涂层钢板及钢带试验方法	国家技术监督局	1992-01-02	作废
GB/T 13789-1992	单片电工钢片(带)磁性能测量方法	国家技术监督局	1993-06-01	作废
GB/T 13789-2008	用单片测试仪测量电工钢片(带)磁性能的方法	国家质量监督检验检疫.	2009-05-01	作废
GB/T 13789-2022	用单片测试仪测量电工钢带(片)磁性能的方法	国家市场监督管理总局.	2022-10-12	现行
GB/T 14141-1993	硅外延层,扩散层和离子注入层薄层电阻的测定直排四探针法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14146-1993	硅外延层载流子浓度测定汞探针电容--电压法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14146-2021	硅外延层载流子浓度的测试电容-电压法	国家市场监督管理总局.	2021-12-01	现行
GB/T 14201-1993	铁矿球团抗压强度测定方法	国家技术监督局	1993-10-01	作废
GB/T 14202-1993	铁矿石(烧结矿,球团矿)容积密度测定方法	国家技术监督局	1993-10-01	现行
GB 1423-1978	贵金属及其合金密度测量方法		1979-07-01	作废
GB/T 1423-1996	贵金属及其合金密度的测试方法	国家技术监督局	1997-04-01	现行
GB 1424-1978	贵金属及其合金电阻系数测量方法		1979-07-01	作废
GB/T 1424-1996	贵金属及其合金材料电阻系数测试方法	国家技术监督局	1997-04-01	现行
GB 1425-1978	热分析测量贵金属共晶合金熔流点的试验方法		1979-07-01	作废
GB/T 1425-1996	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	国家技术监督局	1997-04-01	作废
GB/T 1425-2021	贵金属及其合金熔化温度范围的测定热分析试验方法	国家市场监督管理总局.	2022-03-01	现行
GB/T 14453-1993	金属材料高温弹性模量测量方法圆盘振子法	国家技术监督局	1994-01-01	作废
GB/T 1479-1984	金属粉末松装密度的测定第一部分:漏斗法	国家标准局	1984-01-02	作废
GB 1480-1984	金属粉末粒度组成的测定干筛分法		1984-12-01	作废
GB/T 1480-1995	金属粉末粒度组成的测定干筛分法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 1481-1984	金属粉末(不包括硬质合金用粉末)在单轴压制中压缩性的测定		1984-12-01	作废
GB/T 1482-1984	金属粉末流动性的测定标准漏斗法(霍尔流速计)	国家标准局	1984-01-02	作废
GB/T 14847-1993	重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法	国家技术监督局	1994-09-01	作废
GB/T 15077-1994	贵金属及其合金材料几何尺寸测量方法	国家技术监督局	1994-12-01	作废
GB/T 15078-1994	贵金属电触点材料接触电阻的测量方法	国家技术监督局	1994-12-01	作废
GB/T 15078-2021	贵金属电触点材料接触电阻的测量方法	国家市场监督管理总局.	2022-03-01	现行
GB/T 15250-1994	压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法	国家技术监督局	1995-06-01	作废
GB 1550-1979	硅单晶导电类型测定方法		1980-01-01	作废
GB/T 1550-1997	非本征半导体材料导电类型测试方法	国家技术监督局	1997-01-02	作废
GB/T 1550-2018	非本征半导体材料导电类型测试方法	国家市场监督管理总局.	2019-11-01	现行
GB 1551-1979	硅单晶电阻率直流二探针测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1551-1995	硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB/T 1551-2021	硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法	国家市场监督管理总局.	2021-12-01	现行
GB 1552-1979	硅单晶电阻率直流四探针测量方法		1980-01-01	作废
GB/T 1552-1995	硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法	国家技术监督局	1995-01-02	作废
GB 1553-1979	硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法		1980-01-01	作废

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