| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 40296-2021E |
实用超导线 铌-钛（Nb-Ti）与铌三锡（Nb3Sn）复合超导体的扭距测量方法（英文版） |
国家市场监督管理总局.
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2022-03-01 |
现行 |
| GB/T 40320-2021 |
铝合金力学熔点测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-03-01 |
现行 |
| GB/T 40380.1-2021 |
金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第1部分：高温时松装密度的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2022-03-01 |
现行 |
| GB/T 40380.2-2021 |
金属粉末 高温时松装密度和流速的测定 第2部分：高温时流速的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2022-03-01 |
现行 |
| GB/T 4059-1983 |
硅多晶气氛区熔磷检验方法 |
国家标准局
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1984-01-02 |
作废 |
| GB/T 4060-1983 |
硅多晶真空区熔基硼检验方法 |
国家标准局
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1984-01-02 |
作废 |
| GB/T 4067-1999 |
金属材料电阻温度特征参数的测定 |
中国钢铁工业协会
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2000-08-01 |
现行 |
| GB 4068-1983 |
高电阻电热合金电阻随温度变化试验方法 |
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1984-12-01 |
作废 |
| GB/T 4104-1983 |
直接法氧化锌白度(颜色)检验方法 |
国家标准局
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1984-12-01 |
作废 |
| GB/T 4104-2003 |
直接法氧化锌白度(颜色)检验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
作废 |
| GB/T 4104-2017 |
直接法氧化锌白度检验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-05-01 |
现行 |
| GB/T 4106-1983 |
钨丝二次再结晶温度测量方法 |
国家标准局
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1984-01-02 |
作废 |
| GB/T 4107-1983 |
镁粉松装密度的测定 斯科特容量法 |
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1984-12-01 |
作废 |
| GB/T 4107-2004 |
镁粉松装密度的测定 斯科特容量法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-10-01 |
作废 |
| GB/T 41079.1-2021 |
液态金属物理性能测定方法 第1部分：密度的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 41079.2-2022 |
液态金属物理性能测定方法 第2部分：电导率的测定 |
国家市场监督管理总局.
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2023-02-01 |
现行 |
| GB/T 4108-1983 |
镁粉、铝镁合金粉粒度组成的测定 干筛分法 |
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1984-12-01 |
作废 |
| GB/T 4108-2004 |
镁粉和铝镁合金粉粒度组成的测定干筛分法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-10-01 |
作废 |
| GB/T 41155-2021 |
烧结金属材料（不包括硬质合金） 疲劳试样 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
| GB/T 41751-2022 |
氮化镓单晶衬底片晶面曲率半径测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-02-01 |
现行 |
| GB/T 41765-2022 |
碳化硅单晶位错密度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-05-01 |
现行 |
| GB 4192-1984 |
电真空器件及电光源用钨、钼材料电阻率的测试方法 |
国家标准局
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1984-11-01 |
现行 |
| GB/T 4193-1984 |
电真空器件及电光源用细钨丝,钼丝和薄带密度的测试方法 |
信息产业部（电子）
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1984-01-01 |
现行 |
| GB/T 4195-1984 |
钨,钼粉末粒度分布测试方法(沉降天平法) |
信息产业部（电子）
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1984-01-01 |
现行 |
| GB/T 4196-1984 |
钨,钼条密度测定方法 |
信息产业部（电子）
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1984-01-01 |
现行 |
| GB/T 42161-2022 |
磷酸铁锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-04-01 |
现行 |
| GB/T 42260-2022 |
磷酸铁锂电化学性能测试 循环寿命测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-04-01 |
现行 |
| GB/T 42271-2022 |
半绝缘碳化硅单晶的电阻率非接触测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-04-01 |
现行 |
| GB/T 42544-2023 |
铝及铝合金阳极氧化膜及有机聚合物膜的腐蚀评定 栅格法 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB/T 42676-2023 |
半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42789-2023 |
硅片表面光泽度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42789-2023E |
硅片表面光泽度的测试方法（英文版） |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42902-2023 |
碳化硅外延片表面缺陷的测试 激光散射法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42905-2023 |
碳化硅外延层厚度的测试 红外反射法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 42907-2023 |
硅锭、硅块和硅片中非平衡载流子复合寿命的测试 非接触涡流感应法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
| GB/T 43092-2023 |
锂离子电池正极材料电化学性能测试 高温性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43093-2023 |
镍锰酸锂电化学性能测试 首次放电比容量及首次充放电效率测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 43096-2023 |
金属粉末 稳态流动条件下粉末层透过性试验测定外比表面积 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
| GB/T 4326-1984 |
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
国家标准局
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1985-03-01 |
作废 |
| GB/T 4326-2006 |
非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |