标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 6522-1986 |
氧化铝粉末松装密度的测定 |
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6523-1986 |
氧化铝粉末有效密度的测定 比重瓶法 |
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6524-1986 |
金属粉末粒度分布的测定 光透法 |
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6524-2003 |
金属粉末 粒度分布的测量 重力沉降光透法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
现行 |
GB/T 6525-1986 |
烧结金属材料室温压缩强度的测定 |
国家标准局
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6526-1986 |
自熔合金粉末固-液相线温度区间的测定方法 |
国家标准局
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6608-1999 |
铝箔厚度的测定 称量法 |
国家质量技术监督局
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2000-03-01 |
作废 |
GB/T 6616-1995 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6616-2023 |
半导体晶片电阻率及半导体薄膜薄层电阻的测试 非接触涡流法 |
国家市场监督管理总局.
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2024-03-01 |
现行 |
GB/T 6617-1995 |
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6618-1995 |
硅片厚度和总厚度变化测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6619-1995 |
硅片弯曲度测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6620-1995 |
硅片翘曲度非接触式测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6621-1995 |
硅抛光片表面平整度测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6624-1995 |
硅抛光片表面质量目测检验方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 8015.1-1987 |
铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 重量法 |
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1988-05-01 |
作废 |
GB/T 8015.2-1987 |
铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 分光束显微法 |
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1988-05-01 |
作废 |
GB/T 8359-1987 |
高速钢中碳化物相的定量分析 X射线衍射仪法 |
国家标准局
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 8360-1987 |
金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法 |
国家标准局
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 8362-1987 |
钢中残余奥氏体定量测定 X射线衍射仪法 |
国家标准局
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 8364-1987 |
热双金属比弯曲试验方法 |
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 8364-2003 |
热双金属比弯曲试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-04-01 |
作废 |
GB/T 8364-2008 |
热双金属热弯曲试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-04-01 |
现行 |
GB/T 8643-1988 |
含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定索格利特(Soxhlet)萃取法 |
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 8643-2002 |
含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 修正的索格利特(Soxhlet)萃取法 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-03-01 |
作废 |
GB/T 8643-2021 |
含润滑剂金属粉末中润滑剂含量的测定 索格利特(Soxhlet)萃取法 |
国家市场监督管理总局.
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2022-07-01 |
现行 |
GB/T 8753.1-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法第1部分:无硝酸预浸的磷铬酸法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
作废 |
GB/T 8753.1-2017 |
铝及铝合金阳极氧化 氧化膜封孔质量的评定方法 第1部分:酸浸蚀失重法 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
GB/T 8753.2-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第2部分:硝酸预浸的磷铬酸法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
作废 |
GB/T 8753.4-2005 |
铝及铝合金阳极氧化氧化膜封孔质量的评定方法 第4部分:酸处理后的染色斑点法 |
国家质量监督检验检验.
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2005-12-01 |
现行 |
GB/T 8754-1988 |
铝及铝合金阳极氧化-应用击穿电位测定法检验绝缘性 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8757-1988 |
砷化镓载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8757-2006 |
砷化镓中载流子浓度等离子共振测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
GB/T 8758-1988 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8758-2006 |
砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-01 |
现行 |
GB/T 8759-1988 |
化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法 |
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1989-07-01 |
作废 |
GB/T 8760-2020 |
砷化镓单晶位错密度的测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-08-01 |
现行 |
GB 8763-1988 |
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 |
国家标准局
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1989-02-01 |
作废 |
GB/T 8763-2020 |
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法 |
国家市场监督管理总局.
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2021-04-01 |
现行 |
JB/T 7131-2002 |
热双金属横向弯曲试验方法 |
国家经济贸易委员会
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2003-04-01 |
现行 |