GB/T 15250-1994 压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法国家标准(GB)-工标网

高级查询

您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB/T 15250-1994

标准简介

本标准规定了压电铌酸锂单晶体声波衰减测试的术语、方法原理、试样制备、测试步骤和结果计算。本标准适用于压电铌酸锂单晶材料，也适用于压电钽酸锂、钼酸铅和二氧化碲等单晶材料。


英文名称：	Test method for bulk acoustic wave attenuation of piezoelectric lithium niobate crystals
标准状态：	已作废
替代情况：	调整为YS/T 557-2006
中标分类：	冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：	电子学>>31.140压电器件和介质器件
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1994-09-26
实施日期：	1995-06-01
作废日期：	2007-09-29
首发日期：	1994-09-26
复审日期：	2004-10-14
归口单位：	全国有色金属标准化技术委员会
主管部门：	中国有色金属工业协会
起草单位：	机电部第二十六研究所
页数：	平装16开，页数：7，字数：9千字
出版社：	中国标准出版社
标准前页：	浏览标准前文 \|\| 下载标准前页

金属物理性能试验方法相关标准	第1页第2页第3页第4页第5页更多>>
GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法
GB 1551-1979 硅单晶电阻率直流二探针测量方法
GB/T 1551-1995 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法
GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定直排四探针法和直流两探针法
GB 1552-1979 硅单晶电阻率直流四探针测量方法
GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法
GB 1553-1979 硅单晶寿命直流光电导衰退测量方法
GB/T 1553-1997 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
GB/T 1553-2023 硅和锗体内少数载流子寿命的测定光电导衰减法
免费下载金属物理性能试验方法标准相关目录

压电器件和介质器件相关标准	第1页
GB/T 22317.4-2023 有质量评定的压电滤波器第4部分：分规范能力批准
GB/T 22317.401-2023 有质量评定的压电滤波器第4-1部分：空白详细规范能力批准
GB/T 22318.1-2008 声表面波谐振器第1-1部分：总则和标准值
GB/T 22318.1-2023 声表面波谐振器第1部分：总规范
GB/T 22318.2-2008 声表面波谐振器第1-2部分：试验条件
GB/T 22318.2-2023 声表面波谐振器第2部分：使用指南
GB/T 22319.11-2018 石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法
GB/T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量
GB/T 22319.7-2015 石英晶体元件参数的测量第7部分：石英晶体元件活性跳变的测量
GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
免费下载压电器件和介质器件标准相关目录

发表留言

客服中心

有问题？找在线客服

温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。

常见问题

您可能还需要

必备软件下载

Adobe Acrobat Reader 是一个查看、阅读和打印PDF文件的最佳工具，通过它可以查阅本站的标准文档

搜索更多

购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888 (工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)