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非本征半导体材料导电类型测试方法
标准编号：
GB/T 1550-1997
标准状态：
已作废
标准价格：
24.0
元
客户评分：
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标准简介
本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。
英文名称：
STANDARD methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials
标准状态：
已作废
替代情况：
GB 1550-1979
GB 5256-1985
;被GB/T 1550-2018代替
中标分类：
冶金
>>
金属理化性能试验方法
>>
H21金属物理性能试验方法
ICS分类：
冶金
>>
金属材料试验
>>
77.040.01金属材料试验综合
采标情况：
＝ASTM F42-88
发布部门：
国家技术监督局
发布日期：
1997-06-03
实施日期：
1997-01-02
作废日期：
2019-11-01
首发日期：
1979-05-26
复审日期：
2004-10-14
归口单位：
全国半导体材料和设备标准化技术委员会
主管部门：
国家标准化管理委员会
起草单位：
峨嵋半导体材料厂
页数：
平装16开， 页数：11， 字数：16千字
出版社：
中国标准出版社
书号：
155066.1-14168
出版日期：
2004-04-01
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