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硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 1557-2006 标准状态:已作废
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了采用红外光谱法测定硅单晶中的间隙氧含量的方法。
本标准适用于室外温电阻率大于0.1Ω·cm的n型硅单晶和室温电阻率大于0.5Ω·cm中间的p型硅单晶中间隙氧含量的测量。
本标准测量氧含量的有效范围从1×1016at·cm-3到硅中间隙氧的最大固熔度。
英文名称:  The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 14143-1993;GB/T 1557-1989;被GB/T 1557-2018代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  冶金>>金属材料试验>>77.040.30金属材料化学分析
什么是采标情况? 采标情况:  ASTM F1188-2000 MOD
发布部门:  中华人民共和国质量监督检验检疫总局和国家标准化管理委员会
发布日期:  2006-07-18
实施日期:  2006-11-01
作废日期:  2019-06-01
提出单位:  中国有色金属工业协会
什么是归口单位? 归口单位:  全国有色金属标准化技术委员会
主管部门:  中国有色金属工业协会
起草单位:  峨眉半导体材料厂
起草人:  梁红、覃锐兵、王炎
计划单号:  20060512-T-610
页数:  7页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2006-11-01
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