GB/T 16595-1996 晶片通用网格规范国家标准(GB)-工标网

高级查询

您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB/T 16595-1996

标准简介

本标准规定了可用于定量描述公称圆形半导体晶片表面缺陷的网格图形。


英文名称：	Specification for a universal wafer grid
标准状态：	已作废
替代情况：	被GB/T 16595-2019代替
中标分类：	冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：	电气工程>>29.045半导体材料
采标情况：	＝SEMI M17-90
发布部门：	国家技术监督局
发布日期：	1996-01-01
实施日期：	1997-04-01
作废日期：	2020-02-01
首发日期：	1996-11-04
复审日期：	2004-10-14
归口单位：	全国半导体材料和设备标准化技术委员会
主管部门：	国家标准化管理委员会
起草单位：	中国有色金属工业总公司
页数：	平装16开，页数：7，字数：10千字
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	1997-04-01
标准前页：	浏览标准前文 \|\| 下载标准前页

相关搜索：规范栅格衬底(绝缘)

金属物理性能试验方法相关标准	第1页第2页第3页第4页第5页更多>>
GB/T 17103-1997 金属材料定量极图的测定
GB/T 17170-1997 非掺杂半绝缘砷化镓单晶深能级EL2浓度红外吸收测试方法
GB/T 17473.2-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定
GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
GB/T 18036-2000 铂铑热电偶细丝的热电动势测量方法
GB/T 19076-2022 烧结金属材料规范
GB/T 19289-2003 电工钢片(带)的密度、电阻率和叠装系数的测量方法
GB/T 19289-2019 电工钢带（片）的电阻率、密度和叠装系数的测量方法
GB/T 19346.1-2017 非晶纳米晶合金测试方法第1部分：环形试样交流磁性能
GB/T 19346.2-2017 非晶纳米晶合金测试方法第2部分：带材叠片系数
免费下载金属物理性能试验方法标准相关目录

发表留言

客服中心

有问题？找在线客服

温馨提示：标准更新替换较快，请注意您购买的标准时效性。

常见问题

您浏览过的标准

您可能还需要

必备软件下载

Adobe Acrobat Reader 是一个查看、阅读和打印PDF文件的最佳工具，通过它可以查阅本站的标准文档

搜索更多

购书咨询:0898-3137-2222/13876321121 客服热线:400-7255-888 (工作日8:30-18:00、节假日9:00-17:00)