标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 6570-1986 |
微波二极管测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6571-1995 |
半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
GB/T 6588-2000 |
半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管 第1篇 信号二极管、开关二极管和可控雪崩二极管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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2001-10-01 |
现行 |
GB/T 6589-1986 |
电压调整和电压基准二极管(包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范(可供认证用) |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6589-2002 |
半导体器件 分立器件 第3-2部分: 信号(包括开关)和调整二极管电压调整二极管和电压基准二极管(不包括温度补偿精密基准二极管)空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-05-01 |
现行 |
GB/T 6590-1998 |
半导体器件 分立器件 第6部分:闸流晶体管 第二篇 100A以下环境或管壳额定的双向三极闸流晶体管空白详细规范 |
国家质量技术监督局
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1999-06-01 |
现行 |
GB/T 6625-1986 |
掺氮吸气剂含氮量测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6626.1-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6626.2-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂含汞量的测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6626.3-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB 6626.4-1986 |
释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂压粉牢固度的检测方法 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6628-1996 |
人造石英晶体制材 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB/T 6648-1986 |
半导体集成电路静态读/写存储器空白详细规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
现行 |
GB/T 6663-1986 |
直热式负温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
GB/T 6663.1-2007 |
直热式负温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2007-09-01 |
现行 |
GB/T 6664-1986 |
直热式负温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用) |
国家标准局
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1987-08-01 |
作废 |
GB/T 6798-1996 |
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
GB 6800-1986 |
半导体集成音响电路音频功率放大器测试方法的基本原理 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6812-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种 |
信息产业部(电子)
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1987-08-01 |
作废 |
GB 6813-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 时基电路的品种 |
信息产业部(电子)
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1987-08-01 |
作废 |
GB 6814-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟开关的品种 |
信息产业部(电子)
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1987-08-01 |
作废 |
GB 6815-1986 |
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种 |
信息产业部(电子)
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1987-08-01 |
作废 |
GB 6915-1986 |
高原电力电容器 |
国家标准局
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6916-1997 |
湿热带电力电容器 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
GB/T 6916-2008 |
湿热带电力电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-04-01 |
现行 |
GB 6990-1986 |
电子设备用元器件(或部件)规范中可靠性条款的编写指南 |
国家标准局
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1987-10-01 |
作废 |
GB 6993-1986 |
系统和设备研制生产中的可靠性程序 |
国家标准局
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1987-10-01 |
作废 |
GB/T 6996-2012 |
透射式电视测试图 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB 7016-1986 |
固定电阻器电流噪声测量方法 |
国家标准局
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1987-09-01 |
现行 |
GB 7017-1986 |
电阻器非线性测量方法 |
国家标准局
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1987-09-01 |
现行 |
GB/T 7092-1993 |
半导体集成电路外形尺寸 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 7092-2021 |
半导体集成电路外形尺寸 |
国家市场监督管理总局.
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2021-10-01 |
现行 |
GB/T 7153-1987 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器总规范(可供认证用) |
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1987-09-01 |
作废 |
GB/T 7153-2002 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-12-01 |
现行 |
GB/T 7154-1987 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器空白详细规范 评定水平E(可供认证用) |
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1987-09-01 |
作废 |
GB/T 7154.1-2003 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-1部分: 限流用空白详细规范 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2003-06-01 |
现行 |
GB/T 7154.2-2003 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-2部分:加热元件用空白详细规范 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2003-08-01 |
现行 |
GB/T 7154.3-2003 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-3部分:浪涌电流用空白详细规范 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2003-08-01 |
现行 |
GB/T 7154.4-2003 |
直热式阶跃型正温度系数热敏电阻器 第1-4部分:敏感用空白详细规范 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2003-08-01 |
现行 |
GB/T 7213-1987 |
电子设备用固定电容器 第十五部分:分规范 非固体或固体电解质钽电容器(可供认证用) |
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1987-12-01 |
作废 |