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| 英文名称： |
Mechanical and climatic test methods for semiconductor devices |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
替代GB 4937-1986;被GB/T 4937.1-2006;GB/T 4937.2-2006代替 |
| 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.080半导体器件 |
| 采标情况： |
idt IEC 749:1984 |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1995-01-02 |
| 实施日期： |
1996-08-01
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| 作废日期： |
2007-02-01
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| 首发日期： |
1985-02-06 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
上海市电子仪表计量测试所 |
| 页数： |
平装16开， 页数：35， 字数：65千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
1996-08-01 |
| 标准前页： |
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