标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 13842-2017 |
掺钕钇铝石榴石激光棒 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
GB/T 13863-1992 |
激光辐射功率测试方法 |
国家技术监督局
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1993-05-01 |
作废 |
GB/T 13863-2011 |
激光辐射功率和功率不稳定度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-05-01 |
现行 |
GB/T 13864-1992 |
激光辐射功率稳定度测试方法 |
国家技术监督局
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1993-05-01 |
作废 |
GB/T 13865-1992 |
电力定量器 |
国家技术监督局
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1993-05-01 |
作废 |
GB/T 13943-1992 |
荧光显示管总规范 (可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 13944-1992 |
荧光显示管空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 13945-1992 |
辉光放电显示管总规定 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 13946-1992 |
辉光放电显示管空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 13947-1992 |
电子元器件塑料封装设备 通用技术条件 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 13965-1992 |
仪表元器件术语 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14004-1992 |
电子设备用固定电容器 第6部分: 分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14005-1992 |
电子设备用固定电容器 第六部分:空白详细规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器评定水平E(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14010-1992 |
阴极射线管玻壳试验方法 |
国家技术监督局
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1993-06-09 |
废止 |
GB/T 14011-1992 |
阴极射线管X射线辐射测试方法 |
国家技术监督局
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1993-06-09 |
现行 |
GB/T 14012-1992 |
黑白显像管玻壳总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-06-09 |
废止 |
GB/T 14024-1992 |
内燃机电站无线电干扰特性的测量方法及允许值 传导干扰 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14025-1992 |
半导体集成电路门阵列电路系列和品种ECL系列的品种 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14026-1992 |
半导体集成电路微型计算机电路系列和品种80C86系列的品种 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.1-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 有源滤波器系列品种 |
信息产业部(电子)
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.2-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 脉码调制编译码器系列品种 |
信息产业部(电子)
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.3-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 模拟开关阵列系列品种 |
信息产业部(电子)
|
1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.4-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 双音多频电路系列品种 |
信息产业部(电子)
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.5-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 电话电路系列品种 |
信息产业部(电子)
|
1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.6-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种 |
信息产业部(电子)
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14027.7-1992 |
半导体集成电路通信电路系列和品种 数字交换系统接口电路系列品种 |
信息产业部(电子)
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14028-1992 |
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14028-2018 |
半导体集成电路 模拟开关测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-08-01 |
现行 |
GB/T 14029-1992 |
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14030-1992 |
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14031-1992 |
半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14032-1992 |
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14078-1993 |
氦氖激光器技术条件 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14110-1993 |
闸流管与充气整流管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 14111-1993 |
闸流管与充气整流管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
废止 |
GB/T 14112-1993 |
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
作废 |
GB/T 14112-2015 |
半导体集成电路 塑料双列封装冲制型引线框架规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
GB/T 14113-1993 |
半导体集成电路封装术语 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14114-1993 |
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |
GB/T 14115-1993 |
半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
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1993-08-01 |
现行 |