| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1990-04-01 |
作废 |
| GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
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1990-04-01 |
作废 |
| GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分：膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
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2019-07-01 |
现行 |
| GB/T 11499-2001 |
半导体分立器件文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
| GB 12078-1989 |
X射线管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12078-2012 |
X 射线管总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB 12079-1989 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12079-2012 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB 12082-1989 |
气体激光器文字符号 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
现行 |
| GB 12083-1989 |
气体激光器电源系列 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
| GB/T 12083-2012 |
气体激光器电源系列 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12084-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 |
国家技术监督局
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1990-07-01 |
作废 |
| GB/T 12272-1990 |
射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法 |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
| GB/T 12273-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 12273.1-2017 |
有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB 12274-1990 |
石英晶体振荡器总规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1990-10-01 |
作废 |
| GB/T 12274.1-2012 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分：总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 12274.4-2021 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
| GB/T 12274.401-2023 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分：空白详细规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
| GB 12275-1990 |
石英晶体振荡器型号命名方法 |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
| GB/T 12276-1990 |
电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
| GB/T 12277-1990 |
电子设备用固定电阻器 第七部分:空白详细规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络 评定水平E(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
| GB 12300-1990 |
功率晶体管安全工作区测试方法 |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
现行 |
| GB/T 12507.2-1997 |
光纤光缆连接器 第2部分:F-SMA型光纤光缆连接器分规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
| GB 12511-1990 |
纤维光学开关 第1部分:总规范:(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-07-01 |
现行 |
| GB 12512-1990 |
纤维光学衰减器 第1部分:总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-07-01 |
现行 |
| GB/T 12559-1990 |
印制电路用照相底图图形系列 |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
现行 |
| GB/T 12560-1999 |
半导体器件 分立器件分规范 |
国家质量技术监督局
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2000-03-01 |
现行 |
| GB/T 12561-1990 |
发光二极管空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12562-1990 |
PIN 二极管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12564-1990 |
光电倍增管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12565-1990 |
半导体器件 光电子器件分规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
现行 |
| GB/T 12567-1990 |
直观存储管测试方法 |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
废止 |
| GB/T 12568-1990 |
直观存储管分规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
废止 |
| GB/T 12569-1990 |
直观存储管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
废止 |
| GB/T 12570-1990 |
单色显示管空白详细规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
废止 |
| GB/T 12571-1990 |
单色显示管测试方法 |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12629-1990 |
限定燃烧性的薄覆铜箔 环氧玻璃布层压板(制造多层印刷板用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
作废 |
| GB/T 12630-1990 |
一般用途的薄覆钢箔环氧玻璃布层压板 (制造多层印制板用) |
国家技术监督局
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1991-10-01 |
现行 |
| GB/T 12631-1990 |
印制导线电阻测试方法 |
信息产业部（电子）
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1991-10-01 |
作废 |