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| 英文名称： |
Test methods of safe operating area for power transistors |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.30三极管 |
| UDC分类： |
621.382.33;621.317.3 |
| 采标情况： |
MIL STD 750B,REF |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1990-03-15 |
| 实施日期： |
1990-08-01
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| 首发日期： |
1990-03-15 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国电力电子学标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
中国电器工业协会 |
| 起草单位： |
北京无线电仪器厂 |
| 页数： |
5页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
1990-08-01 |
| 标准前页： |
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