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| 英文名称： |
Measuring methods for insulated-gate bipolar transistor |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
作废; |
| 中标分类： |
电工>>输变电设备>>K46电力半导体期间、部件 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.30三极管 |
| 发布部门： |
国家技术监督局 |
| 发布日期： |
1997-10-05 |
| 实施日期： |
1998-08-01
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| 作废日期： |
2005-10-14
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| 首发日期： |
1997-10-05 |
| 复审日期： |
2004-10-14 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
信息产业部（电子） |
| 起草单位： |
西安电力电子技术研究所 |
| 页数： |
平装16开， 页数：18， 字数：31千字 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066.1-14564 |
| 出版日期： |
2004-08-14 |
| 标准前页： |
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