| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 15287-1994 |
抑制射频干扰整件滤波器 第一部分:总规范 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15288-1994 |
抑制射频干扰整件滤波器 第二部分:分规范 试验方法的选择和一般要求 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15291-1994 |
半导体器件 第6部分 晶闸管 |
国家技术监督局
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1995-10-01 |
作废 |
| GB/T 15292-1994 |
晶闸管测试方法 逆导三极晶闸管 |
国家技术监督局
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1995-10-01 |
废止 |
| GB/T 15293-1994 |
晶闸管测试方法 可关断晶闸管 |
国家技术监督局
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1995-10-01 |
废止 |
| GB/T 15297-1994 |
微电路模块机械和气候试验方法 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
作废 |
| GB/T 15298-1994 |
电子设备用电位器 第一部分:总规范 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15299-1994 |
电子设备用电位器 第二部分:分规范:螺杆驱动和旋转预调电位器 |
信息产业部（电子）
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15300-1994 |
电子设备用电位器 第二部分:空白详细规范 螺杆驱动和旋转预调电位器 评定水平E |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15301-1994 |
气体激光器总规范 |
国家技术监督局
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1995-07-01 |
现行 |
| GB/T 15313-1994 |
激光术语 |
国家技术监督局
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1995-10-01 |
作废 |
| GB/T 15313-2008 |
激光术语 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-10-01 |
现行 |
| GB/T 15394-1994 |
多探针测试台通用技术条件 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15395-1994 |
电子设备机柜通用技术条件 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15426-1994 |
收讯放大电子管 空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15427-1994 |
彩色显示管测试方法 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
废止 |
| GB/T 15428-1995 |
电子设备用冷板设计导则 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15429-1995 |
电子设备用复塑铝板 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 15430-1995 |
红外探测器环境试验方法 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15431-1995 |
微电路模块总规范 |
国家技术监督局
|
1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 15448-1995 |
电子设备用固定电容器 第19部分:分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 15448-2013 |
电子设备用固定电容器 第19部分:分规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
| GB/T 15449-1995 |
管壳额定开关用场效应晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15450-1995 |
硅双栅场效应晶体管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
作废 |
| GB/T 15461-1995 |
电子设备用机电开关 第3部分:成列直插封装式开关分规范 |
国家技术监督局
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1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15462-1995 |
电子设备用机电开关 第3-1部分:成列直插封装式开关 空白详细规范 |
国家技术监督局
|
1995-08-01 |
现行 |
| GB/T 15490-1995 |
固体激光器总规范 |
国家技术监督局
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1995-09-01 |
作废 |
| GB/T 15490-2012 |
固体激光器总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
| GB/T 15509-1995 |
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种 |
信息产业部（电子）
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1995-09-01 |
作废 |
| GB/T 15529-1995 |
半导体发光数码管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1995-01-01 |
现行 |
| GB/T 15647-1995 |
稳态可用性验证试验方法 |
国家技术监督局
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1996-03-01 |
现行 |
| GB/T 15648-1995 |
辉光放电显示管测试方法 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
作废 |
| GB/T 15649-1995 |
半导体激光二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
| GB/T 15650-1995 |
半导体集成电路系列和品种CMOS门阵列电路系列的品种 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
作废 |
| GB/T 15651-1995 |
半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件 |
国家技术监督局
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1996-04-01 |
现行 |
| GB/T 15651.2-2003 |
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 15651.3-2003 |
半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-08-01 |
现行 |
| GB/T 15651.4-2017 |
半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
| GB/T 15651.5-2024 |
半导体器件 第5-5部分：光电子器件 光电耦合器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-07-01 |
现行 |
| GB/T 15651.6-2023 |
半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |