标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 14516-1993 |
无贯穿连接的单、双面挠性印制板技术条件 |
国家技术监督局
|
1994-03-01 |
作废 |
GB/T 14579-1993 |
电子设备用固定电容器 第17部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器 |
国家技术监督局
|
1994-04-01 |
作废 |
GB/T 14579-2013 |
电子设备用固定电容器 第17部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
GB/T 14580-1993 |
电子设备用固定电容器 第17部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器 评定水平E |
国家技术监督局
|
1994-04-01 |
作废 |
GB/T 14580-2013 |
电子设备用固定电容器 第17-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和EZ |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-08-15 |
现行 |
GB/T 14598.12-1998 |
电气继电器 第19部分:空白详细规范 有质量评定的有或无机电继电器试验一览表1,2和3 |
国家质量技术监督局
|
1999-07-01 |
作废 |
GB/T 14619-1993 |
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
国家技术监督局
|
1993-01-02 |
作废 |
GB/T 14619-2013 |
厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-04-15 |
现行 |
GB/T 14620-1993 |
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
国家技术监督局
|
1993-01-02 |
作废 |
GB/T 14620-2013 |
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 |
国家质量监督检验检疫.
|
2014-04-15 |
现行 |
GB/T 14708-1993 |
挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜 |
国家技术监督局
|
1994-07-01 |
作废 |
GB/T 14708-2017 |
挠性印制电路用涂胶聚酯薄膜 |
国家质量监督检验检疫.
|
2018-07-01 |
现行 |
GB/T 14709-1993 |
挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜 |
国家技术监督局
|
1994-07-01 |
作废 |
GB/T 14709-2017 |
挠性印制电路用涂胶聚酰亚胺薄膜 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-12-29 |
现行 |
GB/T 14858-1993 |
黑白监视器通用技术条件 |
国家技术监督局
|
1994-09-01 |
作废 |
GB/T 14862-1993 |
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 |
国家技术监督局
|
1994-10-01 |
现行 |
GB/T 15020-1994 |
电子设备用石英晶体元件 空白详细规范 电阻焊石英晶体元件 评定水平 E |
国家技术监督局
|
1994-01-02 |
作废 |
GB/T 15136-1994 |
半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理 |
国家技术监督局
|
1995-02-01 |
废止 |
GB/T 15137-1994 |
体效应二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
作废 |
GB/T 15138-1994 |
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
现行 |
GB/T 15156-1994 |
压电陶瓷换能元件总规范 |
国家技术监督局
|
1995-02-01 |
作废 |
GB/T 15156-2015 |
压电陶瓷换能元件总规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2016-02-01 |
现行 |
GB/T 15157-1994 |
印制板用频率低于3MHz的连接器 第1部分:总规范 一般要求和编制有质量评定的详细规范的导则 |
国家技术监督局
|
1995-02-01 |
现行 |
GB/T 15157.12-2011 |
频率低于3MHz的印制板连接器 第12部分:集成电路插座的尺寸、一般要求和试验方法详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2012-07-01 |
现行 |
GB/T 15157.14-2007 |
频率低于3MHz的印制板连接器 第14部分: 音频、视频和音像设备用低音频及视频圆形连接器详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2007-11-01 |
现行 |
GB/T 15157.2-1998 |
印制板用频率低于3MHz的连接器 第2部分:有质量评定的具有通用安装特征 基本网格2.54mm(0.1in)的印制板用两件式连接器详细规范 |
国家质量技术监督局
|
1995-02-01 |
作废 |
GB/T 15157.2-2015 |
印制板用频率低于3 MHz的连接器 第2部分:有质量评定的具有通用安装特征基本网格2.54 mm的印制板用两件式连接器详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2017-01-01 |
现行 |
GB/T 15157.7-2002 |
频率低于3MHz的印制板连接器 第7部分: 有质量评定的具有通用插合特性的8位固定和自由连接器详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
|
2003-05-01 |
现行 |
GB/T 15167-1994 |
半导体激光光源总规范 |
国家技术监督局
|
1995-03-01 |
作废 |
GB/T 15175-1994 |
固体激光器主要参数测试方法 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
作废 |
GB/T 15175-2012 |
固体激光器主要参数测量方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-06-01 |
现行 |
GB/T 15176-1994 |
插入式电子元器件用插座及其附件总规范 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
现行 |
GB/T 15177-1994 |
微波检波、混频二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
作废 |
GB/T 15178-1994 |
变容二极管空白详细规范 |
国家技术监督局
|
1995-04-01 |
作废 |
GB/T 15250-1994 |
压电铌酸锂单晶体声波衰减测试方法 |
国家技术监督局
|
1995-06-01 |
作废 |
GB/T 15286-1994 |
端接件总规范 |
国家技术监督局
|
1995-07-01 |
现行 |
GB/T 15287-1994 |
抑制射频干扰整件滤波器 第一部分:总规范 |
国家技术监督局
|
1995-07-01 |
现行 |
GB/T 15288-1994 |
抑制射频干扰整件滤波器 第二部分:分规范 试验方法的选择和一般要求 |
国家技术监督局
|
1995-07-01 |
现行 |
GB/T 15291-1994 |
半导体器件 第6部分 晶闸管 |
国家技术监督局
|
1995-10-01 |
作废 |
GB/T 15292-1994 |
晶闸管测试方法 逆导三极晶闸管 |
国家技术监督局
|
1995-10-01 |
废止 |