标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB/T 11446.5-2013 |
电子级水中痕量金属的原子吸收分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
GB/T 11446.6-1997 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
信息产业部(电子)
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1998-09-01 |
作废 |
GB/T 11446.6-2013 |
电子级水中二氧化硅的分光光度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
GB/T 11446.7-1997 |
电子级水中痕量氯离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的离子色谱测试方法 |
信息产业部(电子)
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1998-09-01 |
作废 |
GB/T 11446.7-2013 |
电子级水中痕量阴离子的离子色谱测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
GB/T 11446.8-1997 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
GB/T 11446.8-2013 |
电子级水中总有机碳的测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
GB/T 11446.9-1997 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
作废 |
GB/T 11446.9-2013 |
电子级水中微粒的仪器测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2014-08-15 |
现行 |
GB/T 11478-1989 |
摄象管总规范 |
信息产业部(电子)
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1990-03-01 |
废止 |
GB/T 11479-1989 |
摄象管空白详细规范(可供认证用) |
信息产业部(电子)
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1990-03-01 |
废止 |
GB 11480-1989 |
摄象管测试方法 |
信息产业部(电子)
|
1990-03-01 |
废止 |
GB 11482-1989 |
交流等离子体显示器件总规范 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
GB 11483-1989 |
交流等离子体显示器件测试方法 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
GB 11490-1989 |
彩色显象管管基尺寸 |
机械电子工业部
|
1990-03-01 |
作废 |
GB/T 11490-2011 |
彩色显像管管基尺寸 |
国家质量监督检验检疫.
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2012-07-01 |
现行 |
GB 11496.1-1989 |
彩色显示管用Y30-G1荧光粉 |
机械电子工业部
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1990-03-01 |
作废 |
GB 11496.2-1989 |
彩色显示管用Y30-B1荧光粉 |
机械电子工业部
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1990-03-01 |
作废 |
GB/T 11497.1-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HC系列的品种 |
信息产业部(电子)
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1990-04-01 |
作废 |
GB/T 11497.2-1989 |
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74HCT系列的品种 |
信息产业部(电子)
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1990-04-01 |
作废 |
GB 11498-1989 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用) |
机械电子工业部
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1990-04-01 |
作废 |
GB/T 11498-2018 |
半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)半导体器件 集成电路 第21部分:膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序) |
国家市场监督管理总局.
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2019-07-01 |
现行 |
GB/T 11499-2001 |
半导体分立器件文字符号 |
国家质量监督检验检疫.
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2002-06-01 |
现行 |
GB 12078-1989 |
X射线管总规范(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-08-01 |
作废 |
GB/T 12078-2012 |
X 射线管总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB 12079-1989 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
GB/T 12079-2012 |
X射线管光电性能测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
GB 12082-1989 |
气体激光器文字符号 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
现行 |
GB 12083-1989 |
气体激光器电源系列 |
国家技术监督局
|
1990-08-01 |
作废 |
GB/T 12083-2012 |
气体激光器电源系列 |
国家质量监督检验检疫.
|
2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12084-1989 |
半导体集成电路TTL电路系列和品种 54/74F系列的品种 |
国家技术监督局
|
1990-07-01 |
作废 |
GB/T 12272-1990 |
射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法 |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
GB/T 12273-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
GB/T 12273.1-2017 |
有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2017-12-01 |
现行 |
GB 12274-1990 |
石英晶体振荡器总规范(可供认证用) |
信息产业部(电子)
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1990-10-01 |
作废 |
GB/T 12274.1-2012 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第1部分:总规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2013-02-15 |
现行 |
GB/T 12274.4-2021 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4部分:分规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2022-05-01 |
现行 |
GB/T 12274.401-2023 |
有质量评定的石英晶体振荡器 第4-1部分:空白详细规范 能力批准 |
国家市场监督管理总局.
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2023-12-01 |
现行 |
GB 12275-1990 |
石英晶体振荡器型号命名方法 |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |
GB/T 12276-1990 |
电子设备用固定电阻器 第七部分:分规范 各电阻器不可单独测量的固定电阻网络(可供认证用) |
国家技术监督局
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1990-10-01 |
现行 |