| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| GB/T 16464-1996 |
半导体器件 集成电路 第1部分:总则 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB/T 16465-1996 |
膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用能力批准程序) |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB/T 16466-1996 |
膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序) |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB/T 16467-1996 |
电子设备用固定电容器 第19部分:空白详细规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流片式固定电容器 评定水平E |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
作废 |
| GB/T 16467-2013 |
电子设备用固定电容器 第19-1部分：空白详细规范表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平EZ |
国家质量监督检验检疫.
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2014-07-15 |
现行 |
| GB/T 16468-1996 |
静电感应晶体管系列型谱 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
| GB/T 16512-1996 |
抑制射频干扰固定电感器 第1部分 总规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16513-1996 |
抑制射频干扰固定电感器 第2部分 分规范 试验方法和一般要求的选择 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16514.2-2005 |
电子设备用机电开关 第5－1部分：按钮开关 空白详细规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-04-01 |
现行 |
| GB/T 16515-1996 |
电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转式低功率线绕和非线绕电位器 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 16515-2023 |
电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器 |
国家市场监督管理总局.
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2024-01-01 |
现行 |
| GB/T 16516-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第2部分:分规范 能力批准 |
国家技术监督局
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1996-05-01 |
现行 |
| GB/T 16517-1996 |
石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第3部分 分规范 鉴定批准 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16523-1996 |
圆形石英玻璃光掩模基板规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16524-1996 |
光掩模对准标记规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16525-1996 |
塑料有引线片式载体封装引线框架规范 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
作废 |
| GB/T 16525-2015 |
半导体集成电路 塑料有引线片式载体封装引线框架规范 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-01-01 |
现行 |
| GB/T 16526-1996 |
封装引线间电容和引线负载电容测试方法 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16527-1996 |
硬面感光板中光致抗蚀剂和电子束抗蚀剂 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16528-1996 |
压敏电阻器用氧化锌陶瓷材料 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16530-1996 |
单模纤维光学器件 回波损耗偏振依赖性测量方法 |
国家技术监督局
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1997-05-01 |
现行 |
| GB/T 16601.1-2017 |
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第1部分：定义和总则 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 16601.2-2017 |
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第2部分：阈值确定 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 16601.3-2017 |
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第3部分：激光功率(能量)承受能力确信 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 16601.4-2017 |
激光器和激光相关设备 激光损伤阈值测试方法 第4部分：检查、探测和测量 |
国家质量监督检验检疫.
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2018-07-01 |
现行 |
| GB/T 16822-1997 |
介电晶体介电性能的试验方法 |
国家技术监督局
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1998-02-01 |
现行 |
| GB/T 16878-1997 |
用于集成电路制造技术的检测图形单元规范 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16879-1997 |
掩模曝光系统精密度和准确度的表示准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16880-1997 |
光掩模缺陷分类和尺寸定义的准则 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 16894-1997 |
大于100A,环境和管壳额定的整流二极管(包括雪崩整流二极管)空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-03-01 |
现行 |
| GB/T 17007-1997 |
绝缘栅双极型晶体管测试方法 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17008-1997 |
绝缘栅双极型晶体管的词汇及文字符号 |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
作废 |
| GB/T 17023-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第二篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列族规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17024-1997 |
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17025-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:分规范 单圈旋转功率电位器 |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17026-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:空白详细规范 单圈旋转功率电位器 评定水平E |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17027-1997 |
电子设备用电位器 第4部分:空白详细规范 单圈旋转功率电位器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17028-1997 |
电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平E |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
现行 |
| GB/T 17029-1997 |
电子设备用电位器 第5部分:空白详细规范 单圈旋转低功率电位器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |
| GB/T 17034-1997 |
电子设备用固定电阻器 第2部分:空白详细规范 低功率非线绕固定电阻器 评定水平F |
国家技术监督局
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1998-09-01 |
废止 |