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英文名称: |
Fault tree analysis method and procedure of electronic components |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
ICS分类: |
电子学>>31.080半导体器件 |
发布部门: |
中国电子学会 |
发布日期: |
2021-11-22 |
实施日期: |
2022-02-01
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提出单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
归口单位: |
中国电子学会可靠性分会 |
起草单位: |
工业和信息化部电子第五研究所 |
起草人: |
何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳 |
页数: |
28页 |
出版社: |
中国标准出版社 |
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