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电子元器件故障树分析方法与程序

国家标准
标准编号:T/CIE 116-2021 标准状态:现行
标准价格:41.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本文件确立了基于失效物理的电子元器件故障树建树方法及故障树分析程序。描述了以故障树为载体的电子元器件故障信息库构建方法。
本文件适用于电子元器件在设计、研制、生产和使用阶段进行故障树建造和失效路径分析,以及电子元器件在设计和应用阶段的潜在失效问题识别,其结果可用于电子元器件的质量归零问题分析、可靠性设计分析和应用风险分析。
本文件方法适用于半导体分立器件、半导体集成电路、混合集成电路、机电元件、印制电路板等电子元器件。
英文名称:  Fault tree analysis method and procedure of electronic components
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.080半导体器件
发布部门:  中国电子学会
发布日期:  2021-11-22
实施日期:  2022-02-01
提出单位:  中国电子学会可靠性分会
什么是归口单位? 归口单位:  中国电子学会可靠性分会
起草单位:  工业和信息化部电子第五研究所
起草人:  何小琦、陈媛、恩云飞、来萍、宋芳芳、王蕴辉、支越、路国光、任艳
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
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