ICS国际标准分类[31电子学]-工标网

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SJ 20959-2006	印制板的数字形式描述		2006-12-30	现行
SJ 20960-2006	光纤速度传感器通用规范		2006-12-30	现行
SJ 20961-2006	集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理		2006-12-30	现行
SJ 20962-2006	LJDT-176.5M、LJDT-186M、LJDT-372M型LC带通滤波器详细规范		2006-12-30	现行
SJ 20963-2006	钨铼合金中铼含量的测定方法		2006-12-30	现行
SJ 20964-2006	钨37铼合金规范		2006-12-30	现行
SJ 20965-2006	光电器件用氧化铍陶瓷载体规范		2006-12-30	现行
SJ 20966-2006	软磁铁氧体材料测量方法		2006-12-30	现行
SJ 20971-2007	机载电子设备机箱B类前锁紧装置规范		2007-12-01	现行
SJ 20972-2007	电荷耦合成像组件通用规范		2007-12-01	现行
SJ 20973-2007	有可靠性指标的双极性固体电解质钽电容器通用规范		2007-12-01	现行
SJ 20984-2008	化学气相淀积(CVD)设备通用规范			现行
SJ 20985-2008	军用电子整机腐蚀防护工艺设计与控制指南			现行
SJ 20986-2008	体波声光器件通用规范			现行
SJ 20987-2008	军用加固液晶显示器通用规范			现行
SJ 20989-2008	CA35N型组合式非固体电解质钽电容器详细规范			现行
SJ/T 211.5-1997	电子工业专用设备设计文件第５部分：编号方法		1998-01-01	现行
SJ/T 211.6-1999	电子工业专用设备设计文件第６部分：设计文件的更改	信息产业部	1999-12-01	现行
SJ/T 2307.1-1997	电子器件详细规范浪涌抑制型压敏电阻器ＭＹＬ１型防雷用氧化锌压敏电阻器评定水平Ｅ	电子工业部	1998-01-01	作废
SJ 2354.1-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管光电参数测试方法总则		1984-07-01	作废
SJ 2354.10-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.11-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.12-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.13-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.14-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.2-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.3-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管暗电流的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.4-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管正向压降的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.5-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管电容的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.6-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管响应度的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.7-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管光谱响应曲线和光谱响应范围的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.8-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管脉冲上升、下降时间的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2354.9-1983	ＰＩＮ、雪崩光电二极管噪声等效功率的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.1-1983	半导体发光器件测试方法总则		1984-07-01	作废
SJ 2355.2-1983	半导体发光器件测试方法正向压降的测试方法		1984-05-01	作废
SJ 2355.3-1983	半导体发光器件测试方法反向电流的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.4-1983	半导体发光器件测试方法结电容的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.5-1983	半导体发光器件测试方法法向光强和半强度角的测试方法		1984-07-01	作废
SJ 2355.6-1983	半导体发光器件测试方法光通量的测试方法		1984-07-01	作废

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