47 ICS国际标准分类[31电子学]-工标网
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标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 SJ 20883-2003  印制电路组件装焊后的清洗工艺方法 信息产业部 2004-03-01 现行
 SJ 20894-2003  电子设备零部件包封灌封材料选择与使用 信息产业部 2004-03-01 现行
 SJ 20895-2003  电子产品生产中的临时性防护要求 信息产业部 2004-03-01 现行
 SJ 20896-2003  印制电路板组件装焊后的洁净度检测及分级 信息产业部 2004-03-01 现行
 SJ 20900-2004  微波电子管用氧化铍陶瓷瓷筒规范 2004-12-01 现行
 SJ 20928-2005  陶瓷无引线片式载体详细规范 2005-12-01 现行
 SJ 20938-2005  微波电路变频测试方法 2006-06-01 现行
 SJ 20954-2006  集成电路锁定试验 2006-12-30 现行
 SJ 20955-2006  故障探测指示器通用规范 2006-12-30 现行
 SJ 20956-2006  接近开关通用规范 2006-12-30 现行
 SJ 20957-2006  大功率半导体激光二极管阵列通用规范 2006-12-30 现行
 SJ 20958-2006  裸基板电测试数据格式 2006-12-30 现行
 SJ 20959-2006  印制板的数字形式描述 2006-12-30 现行
 SJ 20960-2006  光纤速度传感器通用规范 2006-12-30 现行
 SJ 20961-2006  集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 2006-12-30 现行
 SJ 20962-2006  LJDT-176.5M、LJDT-186M、LJDT-372M型LC带通滤波器详细规范 2006-12-30 现行
 SJ 20963-2006  钨铼合金中铼含量的测定方法 2006-12-30 现行
 SJ 20964-2006  钨37铼合金规范 2006-12-30 现行
 SJ 20965-2006  光电器件用氧化铍陶瓷载体规范 2006-12-30 现行
 SJ 20966-2006  软磁铁氧体材料测量方法 2006-12-30 现行
 SJ 20971-2007  机载电子设备机箱B类前锁紧装置规范 2007-12-01 现行
 SJ 20972-2007  电荷耦合成像组件通用规范 2007-12-01 现行
 SJ 20973-2007  有可靠性指标的双极性固体电解质钽电容器通用规范 2007-12-01 现行
 SJ 20984-2008  化学气相淀积(CVD)设备通用规范 现行
 SJ 20985-2008  军用电子整机腐蚀防护工艺设计与控制指南 现行
 SJ 20986-2008  体波声光器件通用规范 现行
 SJ 20987-2008  军用加固液晶显示器通用规范 现行
 SJ 20989-2008  CA35N型组合式非固体电解质钽电容器详细规范 现行
 SJ/T 211.5-1997  电子工业专用设备设计文件 第5部分:编号方法 1998-01-01 现行
 SJ/T 211.6-1999  电子工业专用设备设计文件 第6部分:设计文件的更改 信息产业部 1999-12-01 现行
 SJ/T 2307.1-1997  电子器件详细规范 浪涌抑制型压敏电阻器 MYL1型防雷用氧化锌压敏电阻器 评定水平E 电子工业部 1998-01-01 作废
 SJ 2354.1-1983  PIN、雪崩光电二极管光电参数测试方法 总则 1984-07-01 作废
 SJ 2354.10-1983  PIN、雪崩光电二极管列阵串光因子的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.11-1983  PIN、雪崩光电二极管列阵音区宽度的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.12-1983  PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压温度系数的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.13-1983  PIN、雪崩光电二极管倍增因子的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.14-1983  PIN、雪崩光电二极管过剩噪声指数的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.2-1983  PIN、雪崩光电二极管反向击穿电压的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.3-1983  PIN、雪崩光电二极管暗电流的测试方法 1984-07-01 作废
 SJ 2354.4-1983  PIN、雪崩光电二极管正向压降的测试方法 1984-07-01 作废
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