| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ 50734/8-2003 |
KX031型旋转开关详细规范 |
电子工业部
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 50734/9-2003 |
KX105型旋转开关详细规范 |
电子工业部
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2004-03-01 |
现行 |
| SJ 50920/3-2004 |
RN1082型膜固定电阻网络详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 50920/4-2004 |
RN1102型膜固定电阻网络详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 50920/5-2005 |
RN1042型膜固定电阻网络详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/6-2005 |
RN1052型膜固定电阻网络详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/7-2005 |
RN1062型膜固定电阻网络详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/8-2005 |
RN1072型膜固定电阻网络详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 50920/9-2005 |
RN1092型膜固定电阻网络详细规范 |
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2006-06-01 |
现行 |
| SJ 51215/1-2004 |
ZB2-SMAJ/SMAJ-63.8A和ZB2-SMAJ/SMAJ-63.8B型半硬电缆组件详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 51432/8-2004 |
RMK3225型有可靠性指标的片式膜固定电阻器详细规范 |
信息产业部
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 51518/1-2004 |
LC410-9005-E-E-1E-B-3、LC410-9007-H-E-1E-B-3型电源滤波器详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 51862/1-2004 |
RJK711型有可靠性指标的精密金属箔固定电阻器详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 52283/2-2008 |
CAK45L型有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器详细规范 |
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现行 |
| SJ 52283/3-2008 |
CAK45A型有可靠性指标的片式固体电解质钽电容器详细规范 |
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现行 |
| SJ 52438/14-2004 |
混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范 |
信息产业部
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 53161/1-2004 |
LXT0.5/1.0-001～LXT18.0/26.0-001型带通旋磁滤波器系列详细规范 |
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2004-12-01 |
现行 |
| SJ 54409/1-2003 |
CY-YZ-002型抗电磁干扰动态压力传感器详细规范 |
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2004-03-01 |
废止 |
| SJ 54409/2-2003 |
CY-YZ-003型绝压传感器详细规范 |
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2004-03-01 |
废止 |
| SJ 54409/3-2003 |
CY-YZ-004型差压传感器详细规范 |
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2004-03-01 |
废止 |
| SJ 54409/4-2005 |
CY-YZ-005系列高温表压传感器详细规范 |
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2005-12-01 |
现行 |
| SJ 54409/5-2005 |
CY-YZ-006系列高温差压传感器详细规范 |
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2005-12-01 |
现行 |
| SJ 54409/6-2005 |
CY-YZ-007系列高温绝压传感器详细规范 |
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2005-12-01 |
现行 |
| SJ 54409/7-2005 |
CY-YZ-008系列常温表压传感器详细规范 |
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2005-12-01 |
现行 |
| SJ/Z 9110-1987 |
设备可靠性试验 第４部分：设备可靠性测定试验中确定点估计与置信限的程序 |
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1987-11-27 |
废止 |
| SJ/T 958-2000 |
电子束管电子光学系统电极命名方法 |
信息产业部
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2001-03-01 |
现行 |
| SJ/T 959-2000 |
电子束管电极接线图图形符号 |
信息产业部
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2001-03-01 |
现行 |
| SJ/T 960-2000 |
电子束管侧引出线取向图示法 |
信息产业部
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2001-03-01 |
现行 |
| SN/T 2003.1-2005 |
电子电气产品中铅、汞、镉、铬、溴的测定 第1部分:X射线荧光光谱定性筛选法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2003.2-2006 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定 第2部分：红外光谱定性筛选法 |
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2006-11-15 |
现行 |
| SN/T 2003.3-2006 |
电子电气产品中铅、汞、镉、铬和溴的测定 第3部分：X光射线荧光定量筛选法 |
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2006-11-15 |
废止 |
| SN/T 2004.1-2005 |
电子电气产品中汞的测定 第1部分:原子荧光光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.2-2005 |
电子电气产品中铅、镉、铬的测定 第2部分:火焰原子吸收光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.3-2005 |
电子电气产品中六价铬的测定 第3部分:二苯碳酰二肼分光光度法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2004.4-2006 |
电子电气产品中铅、镉、铬、汞的测定 笫4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-11-15 |
现行 |
| SN/T 2004.6-2006 |
电子电气产品中汞的测定 第6部分:冷原子吸收法 |
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2007-03-01 |
废止 |
| SN/T 2004.7-2006 |
电子电气产品中铅、镉的测定 第7部分:原子荧光光谱法 |
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2007-03-01 |
现行 |
| SN/T 2005.1-2005 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定 第1部分：高效液相色谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2005.2-2005 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴联苯醚的测定第部分：气相色谱质谱法 |
国家质量监督检验检疫.
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2006-01-18 |
废止 |
| SN/T 2005.3-2006 |
电子电气产品中多溴联苯和多溴二苯醚的测定 第3部分：气象色谱-氢火焰离子化检测器 |
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2006-11-15 |
废止 |