微机电系统半导体气体传感器性能检测方法 |
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| 标准编号：DB32/T 4894-2024 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件规定了微机电系统半导体气体传感器性能检测的试验条件、检测方法及检测报告。
本文件适用于微机电系统半导体气体传感器的性能检测。 |
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| 英文名称： |
Test method for performance of micro-electromechanical systems semiconductor gas sensor |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>31.080半导体器件 |
| 发布部门： |
江苏省市场监督管理局 |
| 发布日期： |
2024-11-07 |
| 实施日期： |
2024-12-07
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| 提出单位： |
江苏省纳米技术标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
江苏省纳米技术标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
苏州市计量测试院、苏州慧闻纳米科技有限公司 |
| 起草人： |
史苏娟、方丹、耿彦红、王瑞、董亮华、徐春、王震、孙旭辉 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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本文件按照 GB/T 1.1—2020《标准化工作导则 第 1 部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由江苏省纳米技术标准化技术委员会提出、归口并组织实施。
本文件起草单位：苏州市计量测试院、苏州慧闻纳米科技有限公司。
本文件主要起草人：史苏娟、方丹、耿彦红、王瑞、董亮华、徐春、王震、孙旭辉。 |
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前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 试验条件 1
5 检测方法 2
6 检测报告 5
附录 A（资料性） 测试箱装置介绍与气体配制方法6
参考文献 |
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