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| 英文名称： |
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 41:Test method for reliability of non-volatile memory devices |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： |
IEC 60749-41:2020 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2026-02-27 |
| 实施日期： |
2026-09-01
即将实施 距离实施日期还有135天 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡中微腾芯电子有限公司、上海复旦微电子集团股份有限公司、北京智芯微电子科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、中国电子技术标准化研究院、河北北芯半导体科技有限公司、电子科技大学、南京航空航天大学等 |
| 起草人： |
常艳昭、宋国栋、郭晓宇、解维坤、张凯虹、王建超、陈诚、韩先虎、顾玉娣、季伟伟、冯佳、万永康、虞勇坚、吕栋、路金朋、印琴、张猛华、奚留华、杨霄垒、吴晨烨、李秋枫、秦虎、郝香池、鹿祥宾、张肖、颜佳辉、杨少华、李锟、席善斌、张欢、戴志坚、张颖、陈鑫、吴大畏等 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |