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半导体器件 机械和气候试验方法 第9部分：标志耐久性
标准编号：
GB/T 4937.9-2026
标准状态：
即将实施
标准价格：
33.0
元
客户评分：
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标准简介
本文件的目的是确定固态半导体器件上的标志,在涂抹和去除标签、或使用溶剂和清洗液(通常用于去除印刷电路板制造过程中的焊剂残留)后是否仍清晰。
本文件适用于所有封装类型,用于鉴定和/或工艺监控。本试验是非破坏性的,电气或机械损伤能作为本试验的判据。
注1:本试验不适用于激光打标。
许多可用的溶剂或活性不够,或管控严格,或在直接接触或吸入烟雾时对人类有危险。
注2:相较常用的涂料和标志,本试验中使用的溶剂成分被认为是典型和具有代表性的。
英文名称：
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 9：Permanence of marking
标准状态：
即将实施
中标分类：
电子元器件与信息技术
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半导体分立器件
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L40半导体分立器件综合
ICS分类：
电子学
>>
半导体器件
>>
31.080.01半导体器件综合
采标情况：
IEC 60749-9:2017
发布部门：
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会
发布日期：
2026-02-27
实施日期：
2026-09-01
即将实施
距离实施日期还有
135
天
提出单位：
中华人民共和国工业和信息化部
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位：
中国电子技术标准化研究院、中国科学院微电子研究所、河北北芯半导体科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所
起草人：
王琪、李博、高见头、张娜、马睿彤、席善斌、虞勇坚、尹丽晶、吕栋
页数：
12页
出版社：
中国标准出版社
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