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| 英文名称： |
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 44:Neutron beam irradiated single event effect(SEE) test method for semiconductor devices |
| 标准状态： |
即将实施 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.01半导体器件综合 |
| 采标情况： |
IEC 60749-44:2016 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-12-02 |
| 实施日期： |
2026-07-01
即将实施 距离实施日期还有73天 |
| 提出单位： |
中华人民共和国工业和信息化部 |
| 归口单位： |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
| 起草单位： |
工业和信息化部电子第五研究所、中国电子科技集团公司第十三研究所、广州盟标质量检测技术服务有限公司、吉林华微电子股份有限公司、广微(中山)智能科技有限公司 |
| 起草人： |
何玉娟、张战刚、恩云飞、雷志锋、彭超、席善斌、来萍、黄云、何小琦、李强、常江、张晓全、曹宏建、杨少华 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |