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非易失性存储器耐久和数据保持试验方法

国家标准
标准编号:GB/T 35003-2018 标准状态:现行
标准价格:29.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了非易失性存储器耐久和数据保持试验的方法。
本标准适用于电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪存储器(Flash)以及内嵌上述存储器的集成电路.
英文名称:  Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会
发布日期:  2018-03-15
实施日期:  2018-08-01
提出单位:  中华人民共和国工业和信息化部
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
主管部门:  全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78)
起草单位:  中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司
起草人:  罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
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