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英文名称: |
Test methods for endurance and data retention of non-volatile memory |
中标分类: |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
ICS分类: |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
发布部门: |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会 |
发布日期: |
2018-03-15 |
实施日期: |
2018-08-01
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提出单位: |
中华人民共和国工业和信息化部 |
归口单位: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
主管部门: |
全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC 78) |
起草单位: |
中国电子技术标准化研究院、上海复旦微电子集团股份有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、北京兆易创新科技股份有限公司、深圳国微电子有限公司、成都华微电子科技有限公司 |
起草人: |
罗晓羽、董艺、郭晓宇、高硕、刘妙、谢休华 |
页数: |
12页 |
出版社: |
中国标准出版社 |