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| 英文名称： |
Intelligent computing—Test method for memristor—Part 1:Basic characteristics |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L40半导体分立器件综合 |
| ICS分类： |
电子学>>半导体器件>>31.080.99其他半导体器件 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-10-31 |
| 实施日期： |
2025-10-31
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| 提出单位： |
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32) |
| 归口单位： |
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32) |
| 主管部门： |
全国智能计算标准化工作组(SAC/SWG 32) |
| 起草单位： |
之江实验室、浙江大学、上海复旦微电子集团股份有限公司、中移(杭州)信息技术有限公司、中国计量大学、复旦大学、中国电子科技集团公司第十三研究所、中国科学院微电子研究所、河北大学、东北师范大学、国防科技大学、中国信息通信研究院、浪潮电子信息产业股份有限公司等 |
| 起草人： |
时拓、王忠新、刘津畅、何水兵、李磊、刘山佳、王明、钟鑫、施阁、吴逊、许晓欣、闫小兵、王中强、李莹、黄伟、王义楠、张丽静、王斌强、李祎、刘琦、孙文绚、徐海阳、杨彪、张乾、李清江、张九六、张宏巍、杨明、黄旭辉、武晨希、于双铭、孔维生、李鹏飞、黄唯静、王小鹏等 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |