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硅单晶

国家标准
标准编号:GB/T 12962-2005 标准状态:已作废
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了硅单晶的产品分类、术语、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存。本标准适用于直接拉、悬浮区熔和中子嬗变掺杂制备的硅单晶。产品主要用于制作半导体器件。
英文名称:  Monoccrystalline silicon
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 12962-1996;被GB/T 12962-2015代替
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2005-09-19
实施日期:  2006-04-01
作废日期:  2017-01-01
首发日期:  1991-06-04
提出单位:  中国有色金属工业协会
什么是归口单位? 归口单位:  中国有色金属工业协会
主管部门:  中国有色金属工业协会
起草单位:  北京有色金属研究总院
起草人:  孙燕、王敬、卢立延、贺东江、翟富义
计划单号:  20011277-T-610
页数:  16开, 页数:10, 字数:14千字
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066.1-26923
出版日期:  2006-04-01
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元素半导体材料相关标准 第1页 
 GB 12963-1991 硅多晶
 GB/T 12963-1996 硅多晶
 GB/T 12963-2009 硅多晶
 GB/T 12963-2014 电子级多晶硅
 GB/T 12963-2022 电子级多晶硅
 GB 12964-1991 硅单晶抛光片
 GB/T 12964-1996 硅单晶抛光片
 GB/T 12964-2003 硅单晶抛光片
 GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
 GB 12965-1991 硅单晶切割片和研磨片
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半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片
 GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片
 GB/T 12965-2018 硅单晶切割片和研磨片
 GB/T 13387-2009  硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
 GB/T 13388-2009 硅片参考面结晶学取向X射线测试方法
 GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
 GB/T 14139-2009 硅外延片
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 GB/T 14141-2009  硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
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