| 标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
| SJ/T 10994-1996 |
电子器件详细规范 ＣＣ８１型高压瓷介电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10995-1996 |
电子器件详细规范 ＣＴ８１型高压瓷介电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10996-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ２８８型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10997-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ２８９型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 10998-1996 |
电子器件详细规范 ＣＢＢ１３型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 10999-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ３０型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11000-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ１１０型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11001-1996 |
电子器件详细规范 ＣＤ２９１、ＣＤ２９２、ＣＤ２９３型固定铝电解电容器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11002-1996 |
电子器件详细规范 ＣＢＢ１１１型金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平Ｅ（可供认证用） |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11003-1996 |
电子器件详细规范 半导体集成电路ＣＢ１４４３３型３１／２位Ａ／Ｄ转换器（可供认证用） |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11004-1996 |
半导体电视集成电路图象通道电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11005-1996 |
半导体电视集成电路伴音通道电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11006-1996 |
半导体电视集成电路行场扫描电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11007-1996 |
半导体电视集成电路视频信号和色信号处理电路测试方法的基本原理 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11008-1996 |
电子器件详细规范 半导体电视集成电路ＣＤ１１２３５ＣＰ行、场扫描电路 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11009-1996 |
电子器件详细规范 半导体电视集成电路ＣＤ１１２１５ＡＣＰ图象中频放大电路 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11010-1996 |
电子器件详细规范 半导体电视集成电路ＣＤ１１２４ＡＣＰ伴音中频放大电路 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11011-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 双硫腙分光光度法测定铅 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11011-2015 |
电子器件用纯银钎料中杂质含量 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡、锑、磷的ICP-AES测试方法 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
| SJ/T 11012-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镁和锌 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11013-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镉 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11014-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 孔雀绿分光光度法测定锑 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11015-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 邻菲罗啉分光光度法测定铁 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11016-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 马钱子碱－碘化钾分光光度法测定铋 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11017-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 磷钼蓝分光光度法测定磷 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11018-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 燃烧碘量法测定硫 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11019-1996 |
电子器件用纯银钎焊料的分析方法 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡及锑的化学光谱测定 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ 1102-1976 |
反向阻断型普通半导体闸流管(普通可控整流器) |
第四机械工业部
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1977-01-01 |
废止 |
| SJ 1102-76 |
反向阻断型普通半导体闸流管（普通可控整流器） |
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1977-10-01 |
现行 |
| SJ/T 11020-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 碘量法测定铜 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11021-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 铅、铋、锌、镉、铁、镁、铝、锡和锑的化学光谱测定 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11022-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 邻基二酚紫－溴化十六烷基吡啶分光光度法测定锡 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11023-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铋 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11024-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定锑 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11025-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铅 |
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1997-01-01 |
废止 |
| SJ/T 11026-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定铁、镉、锌 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11027-1996 |
电子器件用银铜钎焊料的分析方法 原子吸收分光光度法测定镁 |
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1997-01-01 |
现行 |
| SJ/T 11028-1996 |
电子器件用金铜钎焊料的分析方法 ＥＤＴＡ容量法测定铜 |
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1997-01-01 |
作废 |
| SJ/T 11028-2015 |
电子器件用金铜钎料的分析方法 EDTA容量法测定铜 |
工业和信息化部
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2016-04-01 |
现行 |
| SJ/T 11029-1996 |
电子器件用金镍钎焊料的分析方法 ＥＤＴＡ容量法测定镍 |
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1997-01-01 |
作废 |