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 您的位置:工标网 >> 标准分类 >> 中标分类 >> A综合 >> A00/09 标准化管理与一般规定 >> A01技术管理
标准编号 标准名称 发布部门 实施日期 状态
 SJ 20058-1992  半导体分立器件 3DK105型NPN硅小功率开关晶体管详细规范 中国电子工业总公司 1993-05-01 现行
 SJ 20059-1992  半导体分立器件 3DG111型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 中国电子工业总公司 1993-05-01 现行
 SJ 20060-1992  半导体分立器件 3DG120型NPN硅高频小功率晶体管详细规范 中国电子工业总公司 1993-05-01 现行
 SJ 2008-1982  RX-5型微波气体放电管 1982-07-01 废止
 SJ 2009-1982  RX-49型微波气体放电管 1982-07-01 废止
 SJ 2010-1982  FZ-10型气体放电噪声管 1982-07-01 废止
 SJ 2011-1982  BB-109型、BB-109A型“O”型返波管 1982-07-01 废止
 SJ 2012-1982  B-211型功率行波管 1982-07-01 废止
 SJ 2013-1982  B-218型功率行波管 1982-07-01 废止
 SJ 2109-1982  CKM-29B(29C、29D、29E、29F、29G)型脉冲磁控管 1983-01-01 废止
 SJ/T 211.5-1997  电子工业专用设备设计文件 第5部分:编号方法 1998-01-01 现行
 SJ 2133-1982  氧化物阴极加速寿命试验方法 1983-01-01 现行
 SJ 2154-1982  薄膜集成电路用微晶玻璃基片 1983-03-01 现行
 SJ 2168-1982  涂覆用环氧粉末 1983-07-01 现行
 SJ 2206-1982  K-21系列反射速调管 1983-07-01 废止
 SJ 2245-1982  RX-7型微波气体放电管 1983-07-01 废止
 SJ 2246-1982  RX202、RX203型微波气体放电管 1983-07-01 废止
 SJ 2295-1983  接收用电子束管加速寿命试验方法 1983-10-01 现行
 SJ 2316-1983  扬声器用纸浆技术条件 电子工业部 1983-10-01 现行
 SJ 2317-1983  扬声器纸浆的弹性模量、损耗因数的测量方法 1983-10-01 现行
 SJ 2351-1983  SF-25型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2352-1983  SF-26型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2353-1983  SF-27型视像管 1983-12-01 废止
 SJ 2384-1983  GDB-221型光电倍增管 1984-05-01 现行
 SJ 2420-1983  电容器和电阻器引出线的优选直径 1984-06-01 现行
 SJ 2423-1983  船用导航雷达设备用图形符号 电子工业部 1984-05-01 废止
 SJ 2477-1984  发射管灯丝断续通电试验方法 1985-01-01 现行
 SJ 2478-1984  31SX3B型黑白显像管 1985-01-01 废止
 SJ 2526-1984  摄像管系列型谱 1985-07-01 废止
 SJ 2534.1-1984  天线测试方法 天线测试场的测试设备 电子工业部 1985-07-01 现行
 SJ 2534.10-1986  天线测试方法 功率增益和方向性的测量 电子工业部 1986-10-01 现行
 SJ 2534.11-1987  天线测试方法 辐射效率的确定 电子工业部 1987-06-01 现行
 SJ 2534.12-1987  天线测试方法 角跟踪天线的特殊测量 1987-06-01 现行
 SJ 2534.13-1987  天线测试方法 电磁辐射的危害 电子工业部 1987-06-01 现行
 SJ 2534.14-1985  天线测试方法 阻抗测量 1986-07-01 现行
 SJ 2534.15-1987  天线测试方法 环境因素 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.16-1987  天线测试方法 功率容量的测量 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.2-1985  天线测试方法 天线测试场的设计 电子工业部 1986-07-01 现行
 SJ 2534.3-1984  天线测试方法 在天线测试场测量天线辐射方向图 电子工业部 1985-07-01 现行
 SJ 2534.4-1985  天线测试方法 天线测试场的鉴定 电子工业部 1986-07-01 现行
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