标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
SJ 2534.5-1985 |
天线测试方法 特殊测量方法 |
电子工业部
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1986-07-01 |
现行 |
SJ 2534.6-1985 |
天线测试方法 天线测试场的操作 |
电子工业部
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1986-07-01 |
现行 |
SJ 2534.7-1986 |
天线测试方法 幅度方向图的现场测量 |
电子工业部
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2534.8-1986 |
天线测试方法 相位测量 |
电子工业部
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2534.9-1985 |
天线测试方法 极化测量 |
电子工业部
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1986-07-01 |
现行 |
SJ 2560-1984 |
753型船用导航雷达技术条件 |
电子工业部
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1985-10-01 |
废止 |
SJ 2572-1985 |
太阳能电池用硅单晶棒、片 |
电子工业部
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1985-10-01 |
作废 |
SJ 2585-1985 |
雷达设备研制过程中可靠性监控程序 |
电子工业部
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1986-01-01 |
废止 |
SJ 26-79 |
小功率电子管寿命试验方法 |
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1980-06-01 |
现行 |
SJ/Z 2655-1986 |
锗单晶缺陷图集 |
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1986-10-01 |
废止 |
SJ 2656-1986 |
钨的光谱分析方法 |
电子工业部
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2657-1986 |
钼的光谱分析方法 |
电子工业部
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2659-1986 |
电子工业用树脂芯焊锡丝 |
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1986-10-01 |
现行 |
SJ 2660-1986 |
软钎焊用树脂系焊剂试验方法 |
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2662-1986 |
756型船用导航雷达技术条件 |
电子工业部
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1986-10-01 |
废止 |
SJ 2674-1986 |
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ16型金属膜固定电阻器 评定水平E |
电子工业部
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2675-1986 |
电子器件详细规范 低功率非线绕固定电阻器RJ17型金属膜固定电阻器 评定水平E |
电子工业部
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1986-10-01 |
作废 |
SJ 2715-1986 |
电子产品用字体和符号 |
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1987-10-01 |
现行 |
SJ 2735-1986 |
电子产品图样绘制规则 |
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1986-12-01 |
废止 |
SJ 2757-1987 |
重掺半导体载流子浓度的红外反射测试方法 |
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1987-07-01 |
现行 |
SJ 2758-1987 |
同型外延层厚度的红外干涉测试方法 |
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1987-07-01 |
废止 |
SJ/Z 2782-1987 |
非蒸散型吸气剂激活全过程的气氛分析方法 |
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1987-12-31 |
现行 |
SJ 2785-1987 |
雷达产品随机文件 |
电子工业部
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1987-10-01 |
废止 |
SJ 2794-1987 |
电子级氢 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2795-1987 |
电子级氮 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2796-1987 |
电子级氧 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2797-1987 |
电子级氩 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2798-1987 |
电子级气体中颗粒的测定方法 光散射法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2799-1987 |
电子级气体中痕量水分子的测定方法 目视露点法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2800-1987 |
电子级气体中痕量甲烷的测定方法 氢焰色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2801-1987 |
电子级气体中痕量一氧化碳的测定方法 预切割氢焰转化色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2802-1987 |
电子级气体中痕量二氧化碳测定方法 氢焰转化色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2803-1987 |
电子级氧中痕量二氧化碳测定方法 预切割氢焰转化色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2804.1-1987 |
电子级氩中痕量氮测定方法 变温浓缩色谱法(一) |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2804.2-1987 |
电子级氩中痕量氮测定方法 变温浓缩色谱法(二) |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2805-1987 |
电子级氢中痕量氧+氩、氮测定方法 变温浓缩色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2806-1987 |
电子级氢中痕量氧和氮测定方法 变温浓缩色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2807-1987 |
电子级气体中痕量氢的测试方法 气敏色谱法 |
电子工业部
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1988-01-01 |
废止 |
SJ 2860-1988 |
电子器件详细规范 功率型固定电阻器 RXG3型线绕固定电阻器 |
电子工业部
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1988-10-01 |
现行 |
SJ 2861-1988 |
电子器件详细规范 功率型固定电阻器 RXG4型线绕固定电阻器 评定水平E |
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1988-10-01 |
现行 |