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| 英文名称： |
Test method for full width at half maximum of double crystal X-ray rocking curve of Ga2O3 single crystal substrate |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
电气工程>>29.045半导体材料 |
| 发布部门： |
中关村标准化协会 |
| 发布日期： |
2024-05-15 |
| 实施日期： |
2024-05-16
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| 提出单位： |
中关村标准化协会技术委员会 |
| 归口单位： |
中关村标准化协会技术委员会 |
| 起草单位： |
中关村天合宽禁带半导体技术创新联盟、北京镓创科技有限公司、北京聚睿众邦科技有限公司、北京邮电大学、北京聚仪共享科技有限公司 |
| 起草人： |
李培刚、宫学源、闫方亮、李龙、杨丽霞、王进进、朱勋、郑红军、刘祎晨、刘紫洋 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |