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| 英文名称： |
Surface chemical analysis—Secondary-ion mass spectrometry—Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials |
| 标准状态： |
即将实施 |
 替代情况： |
替代GB/T 20176-2006 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： |
ISO 14237:2010 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2025-06-30 |
| 实施日期： |
2026-01-01
即将实施 距离实施日期还有149天 |
| 提出单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 归口单位： |
全国表面化学分析标准化技术委员会(SAC/TC 608) |
| 起草单位： |
清华大学、中国地质大学(北京)、中国矿业大学(北京)、中国人民公安大学、北京大学、中山大学、中国工程物理研究院材料研究所 |
| 起草人： |
李展平、郭冲、王梦琴、和平、王富芳、刘兆伦、郎玉博、李芹、张硕、刘可心、吴美璇、陈建、伏晓国 |
| 页数： |
24页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |