微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法 |
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| 标准编号：GB/T 20726-2015 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X-射线能谱仪（EDS）特性最重要的性能参数。本标准仅适用基于固态电离原理的半导体探测器能谱仪。本标准规定了与扫描电镜（SEM）或电子探针（EPMA）联用的EDS性能参数的最低要求以及核查方法。至于实际分析过程，在ISO 22309和 ASTM E1508 中已有规范，不在本标准范围之内。 |
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| 英文名称： |
Microbeam analysis—Selected instrumental performance parameters for the specification and checking of energy dispersive X-ray spectrometers for use in electron probe microanalysis |
 替代情况： |
替代GB/T 20726-2006 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.99有关化学分析方 |
| 采标情况： |
ISO 15632:2012 IDT |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2015-10-09 |
| 实施日期： |
2016-09-01
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| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 主管部门： |
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38) |
| 起草单位： |
中国科学院地质与地球物理研究所。 |
| 起草人： |
曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光。 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2016-09-01 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准代替GB/T20726—2006《半导体探测器X射线能谱仪通则》。
本标准与GB/T20726—2006相比,主要变化如下:
———中文名称修改为:微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法;
———增加了部分术语和定义(见3.2、3.2.1、3.2.2、3.3~3.5、3.12、3.13);
———修改了部分术语和定义(见3.8~3.11,2006年版2.4~2.7);
———删除了仪器本底的术语和定义(见2006年版2.8);
———增加了第五章:“其他性能参数的核查”(见第5章);
———增加有助于理解本标准的必要的参考文献(见参考文献)。
与本标准中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:
———GB/T21636—2008 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语(ISO23833:2006,IDT)。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准主要起草单位:中国科学院地质与地球物理研究所。
本标准主要起草人:曾荣树、徐文东、毛骞、马玉光。
本标准于2007年8月1日首次发布,本次为第一次修订。 |
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下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
ISO23833 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语 |
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