微束分析 电子探针显微分析 (EPMA) 术语 |
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| 标准编号：GB/T 21636-2008 |
标准状态：已作废 |
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| 标准价格：65.0 元 |
客户评分：  |
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本标准定义了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。
本标准适用于所有有关电子探针显微分析(EPMA)实践的标准化文件,部分适用于相关领域[例如:扫描电子显微镜(SEM),分析电子显微镜(AEM),X射线能谱仪等]的标准化文件,用于定义共用的术语。 |
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| 英文名称： |
Microbeam analysis - Electron Probe Micro Analysis (EPMA) - Vocabulary |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 21636-2021代替 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
01.040.71;71.040.99 |
| 采标情况： |
IDT ISO 23833:2006 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2008-04-11 |
| 实施日期： |
2008-10-01
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| 作废日期： |
2022-07-01
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| 首发日期： |
2008-04-11 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 起草人： |
林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、庄世杰、柳得橹 |
| 计划单号： |
20000309-T-469 |
| 页数： |
38页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 书号： |
155066·1-32059 |
| 出版日期： |
2008-07-01 |
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本标准等同采用国际标准ISO23833:2006《微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---5.7.5的注中对ISO23833:2006 勘误将Z>43改为Z>4;
---删除了法文版。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:全国微束分析标准化技术委员会。
本标准主要起草人:林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、庄世杰、柳得橹。 |
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电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）是微束分析技术中一个应用极为广泛的领域，是在高技术产业、基础工
业、农业、冶金、地质、生物、医药卫生、环境保护、商检贸易乃至刑事法庭等行业中需要通过各种材料或
产品的微米尺度成分和结构分析来进行质量管理和质量检验所不可缺少的技术手段。
电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）是一门综合性的技术，涉及物理、化学、电子学等广泛术语。本标准只
限于定义电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）标准化实践中使用和直接有关的术语，其内容包括：
电子探针显微分析用一般术语定义；
描述电子探针显微分析仪器的术语定义；
用于电子探针显微分析方法的术语定义。
本标准是微束分析技术领域中为了适应电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）标准化实践的基本需要而制定的第一个术语标准。扫描电子显微镜（ＳＥＭ），分析电子显微镜（ＡＥＭ），Ｘ 射线能谱仪（ＥＤＳ）等其他领域的术语标准也会相继制定。 |
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