空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法 |
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| 标准编号：GB/T 30110-2013 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：59.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了空间红外探测器用碲镉汞(HgCdTe)外延材料性能参数的测试方法和测试设备要求。
本标准适用于空间红外探测器用碲镉汞外延材料的参数测试,其他用途的碲镉汞外延材料参数的测试可参照使用。 |
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| 英文名称： |
Measuring methods of parameters of HgCdTe epilayers used for space infrared detectors |
 中标分类： |
冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程>>49.060航空航天用电气设备与系统 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2013-12-17 |
| 实施日期： |
2014-05-15
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| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 归口单位： |
全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 312) |
| 主管部门： |
全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 312) |
| 起草单位： |
中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所 |
| 起草人： |
杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2014-05-15 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国空间科学及其应用标准化技术委员会(SAC/TC312)归口。
本标准起草单位:中国科学院上海技术物理研究所、中国电子科技集团第十一研究所、中国兵器工业集团昆明物理研究所。
本标准主要起草人:杨建荣、周立庆、魏彦锋、折伟林、孙士文、陈路、王金义、何力。 |
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前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和说明 3
5 材料参数测试方法 4
5.1 组分与厚度测试 4
5.2 表面晶向测试 8
5.3 晶格常数测试 9
5.4 表面平整度测试 10
5.5 表面粗糙度测试 12
5.6 材料电学参数测试 13
5.7 少数载流子寿命测试 16
5.8 位错密度测试 18
5.9 表面缺陷密度测试 20
5.10 X射线双晶衍射半峰宽测试 20
5.11 X射线形貌测试 22
5.12 材料性能非均匀性测试 23
6 空间环境下材料抗辐照性能测试方法 24
6.1 试验条件 24
6.2 材料抗辐照性能参数测试 24
7 材料参数的精密度、精确度和不确定度测试方法 24
8 测试设备要求 24
附录A (规范性附录) 材料的光学常数 25
附录B(规范性附录) 纵向组分梯度分布的碲镉汞外延材料透过率Ta+ 和反射率Ra- 的计算 26
附录C (资料性附录) 激光干涉仪原理 29
附录D (资料性附录) 位错密度测量值的标准均方差与腐蚀坑计数平均值的关系 30
参考文献 31 |
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