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GB/T19500—2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T21006—2007 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性(ISO21270:2004,IDT)
GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT)
GB/T20175—2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法(ISO14606:2000,IDT)
GB/T22571—2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准(ISO15472:2001,IDT)
GB/T25185—2010 表面化学分析 X 射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
(ISO19318:2004,IDT)
ISO15470:1999 表面化学分析 X 射线光电子能谱仪 所选仪器性能参数表述(SurfaceChemical Analysis—X-ray photoelectron spectrometers—Description of selected instrumentalperformanceparameters)
ISO18116 表面化学分析 样品制备和安装程序标准指南(Surfacechemicalanalysis—Guidelinesforpreparationandmountingofspecimensforanalysis)
ISO18118:2004 表面化学分析 AES和XPS 均相材料定量分析用实验测定相对灵敏度因子的使用指南(Surfacechemicalanalysis—Augerelectron spectroscopy and X-ray photoelectron
spectroscopy—Guidetotheuseofexperimentallydeterminedrelativesensitivityfactorsforthequantitativeanalysisofhomogeneousmaterials)
ISO18516:2006 表面化学分析 AES和XPS 横向分辨率的测定(Surfacechemicalanalysis—AugerelectronspectroscopyandX-rayphotoelectronspectroscopy—Determinationoflateralresolution)
ISO19319 表面化学分析 AES和XPS 横向分辨率、分析面积和分析器分析面积的测定(Surfacechemicalanalysis—Augerelectronspectroscopyand X-rayphotoelectronspectroscopy—Determinationoflateralresolution,analysisarea,andsampleareaviewedbytheanalyzer)
ISO24237 表面化学分析 XPS 强度标的重复性和一致性(Surfacechemicalanalysis—X-ray
photoelectronspectroscopy—Repeatabilityandconstancyofintensityscale) |
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