表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱 测定峰强度的方法和报告结果所需的信息 |
 |
| 标准编号：GB/T 28893-2012 |
标准状态：已作废 |
|
| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
|
|
立即购买工即可享受本标准状态变更提醒服务！ |
|
|
|
|
|
|
本标准规定了俄歇电子能谱和X射线光电子能谱的峰强度测量的分析结果报告中所要求的必要信息。提供了峰强度测量方法和所得峰面积的不确定度信息。 |
|
|
|
| 英文名称： |
Surface Chemical Analysis - Auger electron spectroscopy and X-ray photoelectron spectroscopy - Methods used to determine peak intensities and information required when reporting results |
| 标准状态： |
已作废 |
 替代情况： |
被GB/T 28893-2024代替 |
| 中标分类： |
化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法 |
| ICS分类： |
化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析 |
| 采标情况： |
ISO 20903:2006 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-11-05 |
| 实施日期： |
2013-06-01
|
| 作废日期： |
2024-10-01
|
| 首发日期： |
2012-11-05 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
厦门爱劳德光电有限公司、厦门大学化学化工学院 |
| 起草人： |
王水菊、时海燕、岑丹霞、姚文清、刘芬、沈电洪 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-06-01 |
|
|
|
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准使用翻译法等同采用ISO20903:2006《表面化学分析 俄歇电子能谱和X射线光电子能谱测定峰强度的方法和报告结果所需的信息》
为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改:
———用“本标准”代替“本国际标准”。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本标准负责起草单位:厦门爱劳德光电有限公司、厦门大学化学化工学院。
本标准起草人:王水菊、时海燕、岑丹霞、姚文清、刘芬、沈电洪。 |
|
|
前言 Ⅰ
引言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 符号和缩略语 1
5 直接谱的峰强度测定方法 1
5.1 概述 1
5.2 非弹性本底的选择和扣除 2
5.3 峰强度的测量 3
5.3.1 峰高度的测量 3
5.3.2 峰面积的测量 3
5.4 用计算机软件测量峰强度 4
5.5 重叠峰谱图的峰强度测量 4
5.6 峰面积测量的不确定度 4
6 俄歇电子微分谱的峰强度测定方法 5
6.1 概要 5
6.2 俄歇电子微分谱强度的测量 5
6.3 俄歇电子微分谱强度测量的不确定度 6
7 测量峰强度方法的报告 6
7.1 一般要求 6
7.2 测定直接谱峰强度的方法 6
7.2.1 单峰的强度测量 6
7.2.2 拟合峰的强度测量 6
7.3 获得和测定俄歇电子微分谱峰强度的方法 7
7.3.1 获得微分谱的方法 7
7.3.2 测定峰强度的方法 7
附录A (资料性附录) 仪器对测量强度的影响 8
参考文献 9 |
|
|
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T22461—2008,表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT) |
|
|
|
| |