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标准编号
标准名称
发布部门
实施日期
状态
SJ/T 11460.6.2-2015
液晶显示用背光组件 第6-2部分:测试方法 动态光学与光电参数
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11461.1.1-2013
有机发光二极管显示器 第1-1部分:总规范
工业和信息化部
2013-12-01
现行
SJ/T 11461.5.1-2013
有机发光二极管显示器 第5-1部分:环境试验方法
工业和信息化部
2013-12-01
现行
SJ/T 11462.1-2013
电子设备用编码器 第1部分:总规范
工业和信息化部
2013-12-01
现行
SJ/T 11463-2013
软件研发成本度量规范
工业和信息化部
2013-12-01
废止
SJ/T 11464-2013
电子工业生产经营单位生产安全事故应急管理体系建立指南
工业和信息化部
2014-05-01
现行
SJ/T 11465-2014
网络电视机的网络应用技术要求
工业和信息化部
2014-07-01
现行
SJ/T 11466-2014
红外遥控接收放大器
2014-10-01
现行
SJ/T 11467-2014
电子电气产品中有害物质的风险评估指南
工业和信息化部
2015-04-01
作废
SJ/T 11468-2014
电子电气产品有害物质限制使用 术语
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11469-2014
压电陶瓷材料性能测试方法 切变压电应变常数d15的准静态测试
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 1147-1993
电容器用有机薄膜介质损耗角正切值和介电常数试验方法
1994-06-01
废止
SJ/T 11470-2014
发光二极管外延片
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11471-2014
发光二极管外延片测试方法
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11472-2014
镀锡铜包铝线
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11473-2014
交联聚乙烯绝缘铜膜屏蔽控制电线和电缆
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11474-2014
射频连接器用柔性防护帽规范
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11475-2014
紫外光固化光纤涂料
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11476.2-2014
光纤预制棒用材料 第2部分:四氯化锗
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11476.3-2014
光纤预制棒用材料 第3部分:石英套管
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11477-2014
IP核交付项规范
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11478-2014
IP核质量评测
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11479-2014
IP文档结构指南
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 1148-1993
电容器用有机薄膜击穿强度试验方法
1994-06-01
现行
SJ/T 11480-2014
防静电无尘擦拭布通用规范
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11481-2014
多层印制板用氰酸酯改性环氧玻纤布粘结片预浸料
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11482-2014
电子设备用压敏电阻器 MYP型片式压敏电阻器详细规范 评定水平E
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11483-2014
锂离子电池用电解铜箔
工业和信息化部
2015-04-01
现行
SJ/T 11484-2015
掺铝氧化锌型透明导电氧化物玻璃
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11485-2015
LED型号命名规则
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11486-2015
小功率LED芯片技术规范
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11487-2015
半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11489-2015
低位错密度磷化铟抛光片蚀坑密度的测量方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11490-2015
低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11491-2015
短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11492-2015
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11493-2015
硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
工业和信息化部
2015-10-01
废止
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
工业和信息化部
2015-10-01
现行
SJ/T 11495-2015
硅中间隙氧的转换因子指南
工业和信息化部
2015-10-01
现行
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