标准编号 |
标准名称 |
发布部门 |
实施日期 |
状态 |
GB 6109.4-1988 |
漆包圆绕组线 第4部分:直焊性聚氨酯漆包圆铜线 |
国家机械工业联合会
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 6109.4-2008 |
漆包圆绕组线 第4部分:130级直焊聚氨酯漆包铜圆线 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB 6109.5-1988 |
漆包圆绕组线 第5部分:温度指数180的聚酯亚胺漆包圆铜线 |
中国电器工业协会
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 6109.5-2008 |
漆包圆绕组线 第5部分:180级聚酯亚胺漆包铜圆线 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB 6109.6-1988 |
漆包圆绕组线 第6部分:温度指数220的聚酰亚胺漆包圆铜线 |
中国电器工业协会
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1989-01-01 |
作废 |
GB/T 6109.6-2008 |
漆包圆绕组线 第6部分:220级聚酰亚胺漆包铜圆线 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB 6109.7-1990 |
漆包圆绕组线 第7部分:130级聚酯漆包铜圆线 |
国家技术监督局
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1991-08-01 |
作废 |
GB/T 6109.7-2008 |
漆包圆绕组线 第7部分:130L级聚酯漆包铜圆线 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB 6109.8-1989 |
漆包圆绕组线 第8部分:热粘合或溶剂粘合聚酯漆包圆铜线 |
中国电器工业协会
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1990-01-01 |
作废 |
GB 6109.9-1989 |
漆包圆绕组线 第九部分:热粘合或溶剂粘合直焊性聚氨酯漆包圆铜线 |
机械电子工业部
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1990-01-01 |
作废 |
GB/T 6109.9-2008 |
漆包圆绕组线 第9部分:130级聚酰胺复合直焊聚氨酯漆包铜圆线 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-12-01 |
现行 |
GB/T 6154-1985 |
炭素材料体积密度测定方法 |
中国钢铁工业协会
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1986-06-01 |
作废 |
GB/T 6155-1985 |
炭素材料真密度测定方法 |
中国钢铁工业协会
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1986-06-01 |
作废 |
GB/T 6155-2008 |
炭素材料真密度和真气孔率测定方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2009-10-01 |
废止 |
GB 6156-1985 |
炭素材料真气孔率测定方法 |
国家标准局
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1986-06-01 |
作废 |
GB 6450-1986 |
干式电力变压器 |
国家标准局
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1987-05-01 |
作废 |
GB/T 6451-1999 |
三相油浸式电力变压器技术参数和要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2000-05-01 |
作废 |
GB/T 6451-2008 |
油浸式电力变压器技术参数和要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2008-09-01 |
作废 |
GB/T 6451-2015 |
油浸式电力变压器技术参数和要求 |
国家质量监督检验检疫.
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2016-04-01 |
作废 |
GB/T 6451-2023 |
油浸式电力变压器技术参数和要求 |
国家市场监督管理总局.
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2024-04-01 |
现行 |
GB/T 6495.1-1996 |
光伏器件 第1部分:光伏电流-电压特性的测量 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
GB/T 6495.2-1996 |
光伏器件 第2部分:标准太阳电池的要求 |
国家技术监督局
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1997-01-01 |
现行 |
GB/T 6495.3-1996 |
光伏器件 第3部分:地面用光伏器件的测量原理及标准光谱辐照度数据 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
GB/T 6495.4-1996 |
晶体硅光伏度器件的I-V实测特性的温度和辐照度修正方法 |
国家技术监督局
|
1997-01-01 |
现行 |
GB/T 6495.5-1997 |
光伏器件 第5部分:用开路电压法确定光伏(PV)器件的等效电池温度(ECT) |
国家技术监督局
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1998-08-01 |
现行 |
GB/T 6553-1986 |
评定在严酷环境条件下使用的电气绝缘材料耐漏电起痕性和耐电蚀损的试验方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6553-2003 |
评定在严酷环境条件下使用的电气 绝缘材料耐电痕化和蚀损的试验方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2003-12-01 |
作废 |
GB 6554-1986 |
电气绝缘涂敷粉末试验方法 |
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1987-07-01 |
作废 |
GB/T 6554-2003 |
电气绝缘用树脂基反应复合物 第2部分:试验方法-电气用涂敷粉末方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2004-05-01 |
现行 |
GB/T 6616-1995 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6616-2009 |
半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
作废 |
GB/T 6617-1995 |
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6617-2009 |
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 6618-1995 |
硅片厚度和总厚度变化测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6618-2009 |
硅片厚度和总厚度变化测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 6619-1995 |
硅片弯曲度测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6619-2009 |
硅片弯曲度测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 6620-1995 |
硅片翘曲度非接触式测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |
GB/T 6620-2009 |
硅片翘曲度非接触式测试方法 |
国家质量监督检验检疫.
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2010-06-01 |
现行 |
GB/T 6621-1995 |
硅抛光片表面平整度测试方法 |
国家技术监督局
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1995-01-02 |
作废 |