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 电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件适用于石英晶体元件激励电平相关性(DLD)的测量。本文件规定两种试验方法（A和C）和一种基准测量方法（方法B）。 方法A以IEC 60444-5的π型网络为基础，适用于本文件所覆盖的整个频率范围。 基准测量方法B依据IEC 60444-5或 ... 标准定价: ￥ 38.0 元         GB/T 42968.1-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件定义了集成电路（IC）传导和辐射骚扰电磁抗扰度测量的通用信息，描述了常规的试验条件、试验设备和布置、试验程序和试验报告内容。 附录A中给出了试验方法的对照表，帮助选择适当的测量方法。 标准定价: ￥ 43.0 元         GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了集成电路（IC）对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频（RF）辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。 标准定价: ￥ 41.0 元         GB/T 42969-2023 元器件位移损伤试验方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了元器件位移损伤的试验方法。 本文件适用于光电集成电路和分立器件，如电荷耦合器件（CCD）、光电耦合器、图像敏感器（APS）、光敏管等，用质子、中子进行位移损伤辐照试验。 其他元器件的位移损伤辐照试验参照进行。 标准定价: ￥ 29.0 元         GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了半导体集成电路视频编解码（video encoder and decoder）电路中的模拟视频接口类电路电特性测试方法。 本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。 标准定价: ￥ 54.0 元         GB/T 42972-2023 微波电路 检波器测试方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了微波电路中检波器的电参数测试方法。 本文件适用于单管、单片及混合集成等微波电路中检波器的电参数测试，包括检波二极管、均方根检波器、对数放大检波器、包络/峰值检波器等。 标准定价: ￥ 43.0 元         GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器（FLASH）  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。 本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。 标准定价: ￥ 38.0 元         GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟（DA）转换器  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了数字模拟（DA）转换器（以下简称DA转换器或DAC）的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。 本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。 标准定价: ￥ 59.0 元         GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 ICS 分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了半导体集成电路驱动器（以下简称器件）的电特性测试方法的基本原理和测试程序。 本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱 ... 标准定价: ￥ 49.0 元         GB/T 42989-2023 人工影响天气术语  (现行) 中标分类:  综合>>基础学科>>A47气象学 ICS 分类:  数学、自然科学>>07.060地质学、气象学、水文学 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件界定了人工影响天气的基础术语、作业装备、作业技术和安全保障的术语和定义。 本文件适用于人工影响天气活动。 标准定价: ￥ 31.0 元         GB/T 43023-2023 射频声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件的非线性测量指南  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件规定了通信、测量仪器、雷达系统及消费电子产品等用射频（RF）声表面波（SAW）器件和体声波（BAW）器件（如滤波器、双工器等）的非线性信号的测量方法。 本文件包括非线性的基本特性及测量指南，适用于射频SAW/BAW器件测量系统的建立及相应测量 ... 标准定价: ￥ 38.0 元         GB/T 43024.2-2023 压电、介电和静电振荡器的测量技术 第2部分:相位抖动测量方法  (现行) 中标分类:  电子元器件与信息技术>>电子元件>>L21石英晶体、压电元件 ICS 分类:  电子学>>31.140压电器件和介质器件 发布日期:2023-09-07    实施日期:2023-09-07 简介: 本文件描述了压电、介电和静电振荡器，包括使用介电谐振器的振荡器（DRO）和使用薄膜体声波谐振器（FBAR）的振荡器的相位抖动测量方法，给出了关于相位抖动测量的指南,以精确地测量均方根抖动。 本测量方法采用相位噪声测量设备或相位噪声测量系统。 注1 ... 标准定价: ￥ 43.0 元         找到244622条相关标准，共16309页 [1349] [1350] [1351] [1352] [1353] [1354] [1355] [1356] 1357 [1358] [1359] [1360] [1361] [1362] [1363] [1364] [1365] [下一页]

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