元器件抗辐射性能评估指南 |
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| 标准编号：DB31/T 1648-2025 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：0.0 元 |
客户评分：  |
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本文件规定了空间飞行器用元器件抗辐射性能评估的元器件选用、分析、试验，以及试验结果应用和抗辐射加固设计。
本文件适用于空间飞行器用电子元器件的抗辐射性能评估。 |
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| 英文名称： |
Guideline for anti-radiation capacity assessment of components |
 中标分类： |
>>航空、航天>>V20/29航空器与航天器零部件 |
| ICS分类： |
航空器和航天器工程>>49.020航空器与航天器综合 |
| 发布部门： |
上海市市场监督管理局 |
| 发布日期： |
2025-12-23 |
| 实施日期： |
2026-04-01
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| 提出单位： |
上海市经济和信息化委员会 |
| 归口单位： |
上海市航天工业标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
上海航天技术基础研究所、上海电机学院 |
| 起草人： |
马林东、刘元、琚安安、汪波、秦林生、孔泽斌、祝伟明、王昆黍、黄超、刘伟亮 |
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本文件按照GB/T 1.1—2020 《标准化工作导则 第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由上海市经济和信息化委员会提出并组织实施。
本文件由上海市航天工业标准化技术委员会归口。
本文件起草单位：上海航天技术基础研究所、上海电机学院。
本文件主要起草人：马林东、刘元、琚安安、汪波、秦林生、孔泽斌、祝伟明、王昆黍、黄超、刘伟亮。 |
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前言 Ⅱ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 元器件抗辐射性能评估 1
元器件选用 1
电子元器件辐射敏感性分析 2
基于数据的抗辐射性能分析 2
抗辐射性能评估试验 3
5 试验结果应用 3
6 抗辐射加固设计 3
抗电离总剂量效应加固设计 3
抗单粒子效应加固设计 3
抗位移效应加固设计 4
附录 A（资料性） 元器件空间辐射效应敏感性分类 5
附录 B（资料性） 元器件抗辐射性能评估地面模拟试验装置 7
参考文献 8 |
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下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中，注日期的引用文件，仅该日期对应的版本适用于本文件；不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。
GJB 128A—1997 半导体分立器件试验方法
GJB 548C—2021 微电子器件试验方法和程序
GJB 762.1—1989 半导体器件辐射加固试验方法 中子辐照试验
GJB 7242—2011 单粒子效应试验方法和程序
GJB 8118—2013 军用电子元器件分类与代码
QJ 10004A—2018 宇航用半导体器件总剂量辐照试验方法
QJ 10005A—2018 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
QJ 20009—2012 宇航用光电器件位移损伤试验方法 |
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