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| 英文名称: |
Polished mono-crystalline sapphire substrate wafer |
| 标准状态: |
即将实施 |
替代情况: |
替代GB/T 30858-2014 |
中标分类: |
冶金>>半金属与半导体材料>>H83化合物半导体材料 |
ICS分类: |
电气工程>>29.045半导体材料 |
| 发布部门: |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期: |
2025-10-31 |
| 实施日期: |
2026-05-01
即将实施 距离实施日期还有12天 |
| 提出单位: |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
归口单位: |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2) |
| 主管部门: |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员 |
| 起草单位: |
天通银厦新材料有限公司、有色金属技术经济研究院有限责任公司、青岛华芯晶电科技有限公司、中国科学院上海光学精密机械研究所、广东中图半导体科技股份有限公司、徐州凯成科技有限公司、宁夏材料研究学会、北方民族大学、深圳中机新材料有限公司 |
| 起草人: |
鲁雅荣、杨诗音、康森、李素青、郑东、杭寅、张能、陆椿、韩凤兰、李宁、武金龙、董福元、陈斌 |
| 页数: |
16页 |
| 出版社: |
中国标准出版社 |