大规模数字IC设计-原型验证系统通用规范 |
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| 标准编号：T/CIE 256-2024 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：43.0 元 |
客户评分：  |
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本文件给出了大规模数字IC设计原型验证系统的验证流程、配套工具、选型标准、互联标准、时钟标准和软件标准的说明，并规定了原型验证系统设计要遵循的规范标准和技术要求。本文件适用于大规模数字芯片IC设计验证领域中，以FPGA芯片为主的原型验证系统的设计实现。其可应用于一个完整原型验证系统中的硬件设计模块、软件设计模块、互联拓扑模块及验证调试模块的开发和规范。 |
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 ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中国电子学会 |
| 发布日期： |
2024-08-09 |
| 实施日期： |
2024-09-01
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| 提出单位： |
中国电子学会 |
| 归口单位： |
中国电子学会 |
| 起草单位： |
江苏汤谷智能科技有限公司、清华大学、中国电子科技集团公司第五十八研究所、无锡先进技术研究院、无锡中微亿芯有限公司、中科院计算所、北京理工大学、中科院软件所、浙江大学、深圳市国微电子有限公司、紫光同芯微电子有限公司、湖南进芯电子科技有限公司等 |
| 起草人： |
刘丹、马婧、暴宇、李俊华、李银斯、郝智翔、于鑫、苏琪、杨红艳、李翔宇、李幸和、邵健、魏江杰、袁爱东、张琦滨、汪争、毕小建、韩文燕、张艳飞、谭光明、元国军、武楠、张龙、张立星、薛梅、盛敬刚、黄雯华、李熠 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
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