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| 英文名称： |
Testing method for nano geometric standard samples |
 中标分类： |
机械>>工艺装备>>J42量具与量仪 |
| ICS分类： |
计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>17.040.30测量仪器仪表 |
| 发布部门： |
国家市场监督管理总局 国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2024-04-25 |
| 实施日期： |
2024-11-01
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| 归口单位： |
全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC 132) |
| 起草单位： |
中国电子科技集团公司第十三研究所、成都工具研究所有限公司、中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所、上海计量测试技术研究院、同济大学、天津大学、中国计量科学研究院、广西壮族自治区计量检测研究院、中国测试技术研究院、苏州天准科技股份有限公司 |
| 起草人： |
吴爱华、付兴昌、李锁印、许晓青、邹学锋、韩志国、赵琳、张晓东、冯亚南、梁法国、许刚、何宜鲜、朱振宇、李强、万宇、雷李华、傅云霞、曾艳华、管钰晴、邓晓、刘庆纲、张恒、施玉书、苏翼雄、冉庆、曹葵康 |
| 页数： |
20页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |