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| 英文名称： |
Nanotechnologies—Electrical operating parameter test specification of wafer level nano-scale phase change memory cells |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路 |
| ICS分类： |
电子学>>31.200集成电路、微电子学 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2017-05-12 |
| 实施日期： |
2017-12-01
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| 复审日期： |
2023-12-28 |
| 提出单位： |
中国科学院 |
| 归口单位： |
全国纳米技术标准化技术委员会(SAC/TC 279) |
| 起草单位： |
中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
| 起草人： |
陈一峰、陈小刚、宋志棠 |
| 页数： |
16页【彩图】 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2017-05-01 |