工标网 回首页
标准分类  最新标准New!  标准公告 标准动态  标准论坛
 高级查询
帮助 | 登录 | 注册
查标准上工标网 免费查询标准最新替代作废信息
 您的位置:工标网 >> 国家标准(GB) >> GB/T 29850-2013

光伏电池用硅材料补偿度测量方法

国家标准
标准编号:GB/T 29850-2013 标准状态:现行
标准价格:24.0 客户评分:星星星星1
本标准有现货可当天发货一线城市最快隔天可到!
点击放入购物车 如何购买?问客服 放入收藏夹,免费跟踪本标准更替信息! 参与评论本标准
标准简介
本标准规定了光伏电池用硅材料补偿度的测量和分析方法。
本标准适用于光伏电池用非掺杂硅材料补偿度的测量和分析。
英文名称:  Test method for measuring compensation degree of silicon materials used for photovoltaic applications
什么是中标分类? 中标分类:  冶金>>半金属与半导体材料>>H82元素半导体材料
什么是ICS分类?  ICS分类:  电气工程>>29.045半导体材料
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2013-11-12
实施日期:  2014-04-15
提出单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
什么是归口单位? 归口单位:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
主管部门:  全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)
起草单位:  信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、无锡尚德太阳能电力有限公司、国家电子功能与辅助材料质量监督检验中心、天津市环欧半导体材料技术有限公司
起草人:  董颜辉、何秀坤、郑彩萍、裴会川、冯亚彬、路景刚、张雪囡
页数:  8页
出版社:  中国标准出版社
书号:  155066·1-48023
出版日期:  2014-04-15
  [ 评论 ][ 关闭 ]
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)提出并归口。
本标准起草单位:信息产业专用材料质量监督检验中心、中国电子技术标准化研究院、无锡尚德太阳能电力有限公司、国家电子功能与辅助材料质量监督检验中心、天津市环欧半导体材料技术有限公司。
本标准主要起草人:董颜辉、何秀坤、郑彩萍、裴会川、冯亚彬、路景刚、张雪囡。
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T4326 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
GB/T14264 半导体材料术语
GB/T24581 低温傅立叶变换红外光谱法测量硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测试方法
GB/T29057 用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程

元素半导体材料相关标准 第1页 
 GB/T 29852-2013 光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
 GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
 GB/T 31854-2015 光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
 GB/T 32573-2016 硅粉 总碳含量的测定 感应炉内燃烧后红外吸收法
 GB/T 32651-2016 采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
 GB/T 35307-2017 流化床法颗粒硅
 GB/T 35307-2023 流化床法颗粒硅
 GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
 GB/T 40561-2021 光伏硅材料 氧含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
 GB/T 40566-2021 流化床法颗粒硅 氢含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
 免费下载元素半导体材料标准相关目录

半导体材料相关标准 第1页 第2页 
 GB/T 30453-2013 硅材料原生缺陷图谱
 GB/T 30652-2014 硅外延用三氯氢硅
 GB/T 30656-2014 碳化硅单晶抛光片
 GB/T 30656-2023 碳化硅单晶抛光片
 GB/T 30854-2014 LED发光用氮化镓基外延片
 GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底
 GB/T 30856-2014 LED外延芯片用砷化镓衬底
 GB/T 30858-2014 蓝宝石单晶衬底抛光片
 GB/T 30866-2014 碳化硅单晶片直径测试方法
 GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
 免费下载半导体材料标准相关目录

 发表留言
内 容
  用户:   口令:  
 
 
客服中心
有问题?找在线客服 点击和客服交流,我们的在线时间是:工作日8:30至18:00,节假日;9:00至17:00。工标网欢迎您和我们联系!
未开通400地区或小灵通请直接拨打0898-3137 2222 400-7255-888
客服QQ 1197428036 992023608
MSN或电子邮件 18976748618 13876321121
温馨提示:标准更新替换较快,请注意您购买的标准时效性。
常见问题 帮助中心
我为什么找不到我想要的标准?
配送范围、配送时间和收费标准
如何付款,支持哪些付款方式?
必备软件下载
Adobe Acrobat Reader 是一个查看、 阅读和打印PDF文件的最佳工具,通 过它可以查阅本站的标准文档
pdf下载
搜索更多
google 中搜索:GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
baidu 中搜索:GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
yahoo 中搜索:GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
soso 中搜索:GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
中搜索:GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
 
付款方式 - 关于我们 - 帮助中心 - 联系我们 - 诚聘英才 - 合作伙伴 - 使用条款
QQ:1197428036 992023608 有问题? 联系在线客服
Copyright © 工标网 2005-2023,All Right Reserved