半导体激光测距仪通用技术条件 |
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| 标准编号：GB/T 29299-2012 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了半导体激光测距仪的要求、试验方法、检验规则、包装、运输和标志等内容。
本标准适用于半导体激光测距类仪器。 |
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| 英文名称： |
General specification of semiconductor laser rangefinder |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L51激光器件 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2012-12-31 |
| 实施日期： |
2013-06-01
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| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会 |
| 起草单位： |
孝感华中精密仪器有限公司、湖北富华精密光电有限公司 |
| 起草人： |
刘博、朱晓旭、程刚、张红坤、周泽武 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2013-06-01 |
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本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本标准负责起草单位:湖北华中光电科技有限公司。
本标准参加起草单位:孝感华中精密仪器有限公司、湖北富华精密光电有限公司。
本标准主要起草人:刘博、朱晓旭、程刚、张红坤、周泽武。 |
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前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 要求 2
4.1 技术要求 2
4.2 性能要求 3
4.3 环境适应性要求 3
4.4 可靠性要求 4
5 试验方法 5
5.1 技术要求试验 5
5.2 性能要求试验 5
5.3 环境适应性要求试验 6
5.4 可靠性要求试验 7
6 检验规则 7
6.1 一般规则 7
6.2 鉴定检验 7
6.3 型式检验 7
6.4 出厂检验 7
6.5 检验项目 8
6.6 抽样方案及合格或不合格判断 8
7 包装、运输、标志 8
7.1 包装 8
7.2 运输 8
7.3 标志 8 |
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