半导体激光器测试方法 |
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| 标准编号：GB/T 31359-2015 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：59.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了半导体激光器主要光电参数的测试方法。
本标准适用于半导体激光器主要光电参数的测试。半导体激光器组件可参考执行。 |
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| 英文名称： |
Test methods of semiconductor lasers |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L51激光器件 |
| ICS分类： |
电子学>>31.260光电子学、激光设备 |
| 发布部门： |
中国标准出版社 |
| 发布日期： |
2015-02-04 |
| 实施日期： |
2015-08-01
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| 提出单位： |
中国机械工业联合会 |
| 归口单位： |
全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284) |
| 起草单位： |
西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所 |
| 起草人： |
刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新 |
| 页数： |
36页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-08-01 |
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本标准按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光辐射安全和激光设备标准化技术委员会(SAC/TC284)归口。
本标准起草单位:西安炬光科技有限公司、中国科学院西安光学精密机械研究所、中国科学院半导体研究所、北京国科世纪激光技术有限公司、武汉华工正源光子技术有限公司、中国电子科技集团公司第十三研究所。
本标准主要起草人:刘兴胜、赵卫、许国栋、张艳春、杨军红、马晓宇、唐琦、吴迪、王贞福、王警卫、谢彦虎、王家赞、李小宁、史俊红、陈海蓉、仲莉、石朝辉、张恩、许海明、张国新。 |
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