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纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

国家标准
标准编号:GB/T 23413-2009 标准状态:现行
标准价格:29.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100nm,微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
英文名称:  Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials—X-ray diffraction line broadening method
什么是中标分类? 中标分类:  仪器、仪表>>试验机与无损探伤仪器>>N78X射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  试验>>19.100无损检测
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2009-04-01
实施日期:  2009-12-01
首发日期:  2009-04-01
提出单位:  全国微束标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束标准化技术委员会
主管部门:  国家标准化管理委员会
起草单位:  钢铁研究总院、首钢技术研究院
起草人:  方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍
计划单号:  20030761-T-469
页数:  12页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2009-12-01
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前言
本标准的附录A 为规范性附录。
本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:钢铁研究总院、首钢技术研究院。
本标准主要起草人:方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。
引用标准
GBW(E)130014 X 射线衍射硅粉末标准物质
GBW(E)130016 X 射线衍射仪校正用αSiO2 标准物质

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