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集成电路锁定试验

标准
标准编号:SJ 20954-2006 标准状态:现行
标准价格:20.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。
英文名称:  Integrated circuits latch-up test
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
什么是ICS分类?  ICS分类:  电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布日期:  2006-08-07
实施日期:  2006-12-30
页数:  15页
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